天線高低溫耐受試驗標準
作者：
salmon范
編輯(ji)：
瑞凱儀器
來源：
bibil.cn
發布日期： 2021.03.17
1.目(mu)的(de)：驗證產品在(zai)高低溫環境下各項性能指標符合客戶或(huo)出廠檢驗要求。
2.范圍：天線產品。
3.職責(ze)：
3.1新產(chan)品(pin)開發時根(gen)據(ju)客戶或(huo)設計工程師對產(chan)品(pin)耐(nai)受(shou)高低溫(wen)的(de)(de)(de)要(yao)求(qiu)，項目小組成員需根(gen)據(ju)要(yao)求(qiu)做(zuo)相應的(de)(de)(de)高低溫(wen)耐(nai)受(shou)測(ce)試試驗(yan)標(biao)準(zhun)和(he)試驗(yan)，并(bing)符合要(yao)求(qiu)，試驗(yan)時任(ren)何不符合的(de)(de)(de)，需尋找根(gen)本原因，并(bing)采取糾正措施，直至試驗(yan)合格。
3.2產(chan)品批量生產(chan)后，質(zhi)量部需定期對產(chan)品高低溫耐受能力進行驗證。
4.程序：
4.1抽樣樣品數量由(you)設(she)計團隊定義，并通(tong)過參加新產(chan)品開發負責質量管(guan)理(li)的工程師確認，一般已10件(jian)為宜.
4.2試驗(yan)計劃見(jian)（附件），通常用于樣品(pin)試驗(yan)階(jie)段(duan)，并保(bao)存試驗(yan)報告和樣品(pin)，可供查詢及追溯。
4.3批量生產產品高(gao)低溫耐受能力檢(jian)驗頻次及數量見(jian)作業(ye)指導書上規定。
5. 低溫耐受測試標準：
5.1試驗條(tiao)件：溫度：-30℃±5℃ 時(shi)間：160h，
5.2 試驗(yan)步(bu)驟(zou)：
5.2.1 將處于室溫(wen)下的試驗樣(yang)品，在(zai)不通(tong)電的狀態(tai)下按正常位(wei)置放入高(gao)(gao)低溫(wen)試驗箱內，此時高(gao)(gao)低溫(wen)試驗箱的溫(wen)度也為室溫(wen)。
5.2.2 對高低溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱進行降溫(wen)(wen)，試(shi)(shi)驗(yan)箱內溫(wen)(wen)度(du)(du)以不(bu)大于5℃/min的速率下(xia)降到(dao)(dao)試(shi)(shi)驗(yan)
溫(wen)(wen)度(du)(du)，并且等待試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)品達(da)到(dao)(dao)穩定(ding)(ding)溫(wen)(wen)度(du)(du)（所謂穩定(ding)(ding)溫(wen)(wen)度(du)(du)是指(zhi)試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)品的溫(wen)(wen)度(du)(du)與其后(hou)(hou)溫(wen)(wen)度(du)(du) 之差(cha)在(zai)(zai)3℃）。試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)品在(zai)(zai)達(da)到(dao)(dao)穩定(ding)(ding)溫(wen)(wen)度(du)(du)后(hou)(hou)在(zai)(zai)規定(ding)(ding)溫(wen)(wen)度(du)(du)下(xia)持(chi)續儲(chu)存160小時。
5.2.3 在存儲時間結束后(hou)(hou)，應在升溫(wen)前停止(zhi)通電。等待(dai)溫(wen)度恢復(fu)到(dao)常溫(wen)后(hou)(hou)取出(chu)試(shi)驗樣品進行(xing)性能測試(shi)。
5.2.4 性能測(ce)(ce)試：試驗樣(yang)品對(dui)比母片測(ce)(ce)試頻率(lv)及(ji)阻(zu)抗(kang)匹(pi)配符合要求（具(ju)體(ti)見作業指導書(shu)）； 裝入整機內使用(yong)網絡分析儀測(ce)(ce)試頻率(lv)及(ji)阻(zu)抗(kang)匹(pi)配（頻率(lv)1575M，50Ω阻(zu)抗(kang)匹(pi)配）；無源測(ce)(ce)試實收衛星（測(ce)(ce)試一片樣(yang)品即可）。
6. 高溫耐受測(ce)試標準：
6.1 試(shi)驗條件：溫度(du)：85℃±5℃、時間：160h。
6.2 試(shi)驗(yan)步驟：
6.2.1 將處于室溫下(xia)的(de)試驗樣(yang)品，在不通電的(de)狀態下(xia)按正常位置放入(ru)高(gao)低溫試驗箱內，此時高(gao)低溫試驗箱的(de)溫度也為(wei)室溫。
6.2.2 對高(gao)低(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)進行(xing)降溫(wen)(wen)(wen)(wen)，試(shi)驗(yan)箱(xiang)內溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)以不大于(yu)5℃/min的(de)(de)速率上(shang)升到試(shi)驗(yan)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)，并且等(deng)待試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)達(da)到穩(wen)定(ding)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)（所謂穩(wen)定(ding)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)是(shi)指試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)與(yu)其(qi)后溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)之差在3℃）。試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)在達(da)到穩(wen)定(ding)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)后在規定(ding)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)下持續儲存160小(xiao)時(shi)。
6.2.3 在(zai)存儲時間結束(shu)后，應在(zai)降(jiang)溫(wen)前停止通(tong)電。等待(dai)溫(wen)度恢復到(dao)常溫(wen)后取(qu)出試驗(yan)樣品(pin)進(jin)行性能(neng)測(ce)試。
6.2.4 性能測試(shi)(shi)(shi)(shi)：試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品對比母片測試(shi)(shi)(shi)(shi)頻率及阻(zu)(zu)抗匹配(pei)(pei)符合(he)要求（具體(ti)見作業指(zhi)導書(shu)）；裝入整機內使(shi)用網絡(luo)分(fen)析儀測試(shi)(shi)(shi)(shi)頻率及阻(zu)(zu)抗匹配(pei)(pei)（頻率1575M，50Ω阻(zu)(zu)抗匹配(pei)(pei)）；無源(yuan)測試(shi)(shi)(shi)(shi)實收衛星（測試(shi)(shi)(shi)(shi)一片樣品即可(ke)）。
7. 高(gao)低溫循環耐受測試標(biao)準：
7.1 試驗條(tiao)件：高溫溫度：85℃±5℃、低溫溫度：-30℃±5℃。
7.2 試(shi)驗步驟：
7.2.1 將處于(yu)室溫下(xia)的試(shi)驗(yan)樣品，在不通電的狀態下(xia)按正(zheng)常位置放入高低溫試(shi)驗(yan)箱內，此時試(shi)驗(yan)箱的溫度(du)也(ye)為室溫。
7.2.2 對高低溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱進行升溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)，試(shi)驗(yan)箱內(nei)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)以不大(da)于5℃/min的速率上升到試(shi)驗(yan)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)，并(bing)且等待試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)達(da)到穩定溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)（所謂(wei)穩定溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)是指(zhi)試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)(pin)的溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)與其后溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)(du)之差在3℃），保溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)1h。
7.2.3 對(dui)高低溫試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)進行降(jiang)溫，試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)內溫度(du)以(yi)不大于5℃/min的速率上升到試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 溫度(du)，并且等待試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣品(pin)(pin)達到穩定溫度(du)（所謂(wei)穩定溫度(du)是指試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣品(pin)(pin)的溫度(du)與其(qi)后(hou)溫度(du)之差在(zai)3℃），保(bao)溫1h
7.2.4 按(an)上述高(gao)低(di)溫(wen)循環步驟進行5次(ci)交(jiao)替(ti)
7.2.5 高低溫循環結束后(hou)，應(ying)在降溫前停止通電。等(deng)待溫度恢(hui)復到常溫后(hou)取出(chu)試驗(yan)樣品進行性能測試。
7.2.6 性能測(ce)(ce)試(shi)：試(shi)驗樣品對比母片測(ce)(ce)試(shi)頻率及阻(zu)抗匹(pi)配符(fu)合要求（具(ju)體見(jian)作業指(zhi)導書）；裝入(ru)整機內使用網絡分析儀(yi)測(ce)(ce)試(shi)頻率及阻(zu)抗匹(pi)配（頻率1575M，50Ω阻抗匹配）；無(wu)源(yuan)測試實收衛星（測試一片樣品即可(ke)）
8.記錄：
8.1所(suo)有新(xin)產品項目(mu)(mu)開發時(shi)的(de)試驗計劃及測試結(jie)果，必(bi)須由(you)項目(mu)(mu)組(zu)長和項目(mu)(mu)組(zu)成員簽字確認，并保存在項目(mu)(mu)文件夾中(zhong)。
8.2批量生產后(hou)的測試記錄(lu)由(you)質量部保存。
9注解：
9.1這項標準和(he)規定，批量生產(chan)時質量和(he)生產(chan)部經理(li)(li)需理(li)(li)解和(he)按要求(qiu)執行本標準。
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