電子器部件及產品老化試驗方法
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀(yi)器
來(lai)源：
bibil.cn
發布日期： 2021.03.18
1、范圍
本標準規(gui)定了電子器部件及產品老化試驗(yan)方法。
本標準適用于電子器(qi)部件及產品的(de)老化試(shi)驗。
2、規范性(xing)引(yin)用文件
下列文(wen)件中的(de)(de)(de)(de)條款(kuan)通(tong)過本(ben)(ben)(ben)標準(zhun)的(de)(de)(de)(de)引(yin)用(yong)(yong)而成(cheng)為(wei)本(ben)(ben)(ben)標準(zhun)的(de)(de)(de)(de)條款(kuan)。凡(fan)是(shi)注日期的(de)(de)(de)(de)引(yin)用(yong)(yong)文(wen)件，其隨后所有的(de)(de)(de)(de)修改單（不包(bao)括勘(kan)誤(wu)的(de)(de)(de)(de)內(nei)容）或修訂版(ban)均不適用(yong)(yong)于本(ben)(ben)(ben)標準(zhun)，然而，鼓(gu)勵(li)根據(ju)本(ben)(ben)(ben)標準(zhun)達成(cheng)協議的(de)(de)(de)(de)各方(fang)研究是(shi)否可使用(yong)(yong)這些文(wen)件的(de)(de)(de)(de)新版(ban)本(ben)(ben)(ben)。凡(fan)是(shi)不注日期的(de)(de)(de)(de)引(yin)用(yong)(yong)文(wen)件，其新版(ban)本(ben)(ben)(ben)適用(yong)(yong)于本(ben)(ben)(ben)標準(zhun)。
GB/T 2423. 1-2008 電工電子產品環境試驗第(di)2部分(fen):試驗方法 試驗A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
GB/T 2423. 2 -2008電工 電子產品環境(jing)試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
GB/T2423. 4-2008電(dian)工 電(dian)子產品環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)第2部分(fen):試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)Db:交變濕(shi)熱（12h + 12h循(xun)環(huan)）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
GB/T2423.10 電工電子產(chan)品(pin)環境試驗(yan)(yan)第2部(bu)分:試驗(yan)(yan)方法(fa) 試驗(yan)(yan)Fc和(he)導則(ze):振動（正弦(xian)） （IEC 60068-2-6， IDT）
GB/T2423.11電工(gong)
電子產品環境(jing)試驗第2部分:試驗方(fang)法(fa) 試驗Fd:寬頻帶隨(sui)機振動一般要求(qiu)（IEC 68-2-34，IDT）
3 3試驗方法
3.1 將處于室溫的(de)(de)試品（各類電(dian)子器(qi)部件及產品），在(zai)不(bu)加包(bao)裝、不(bu)通(tong)電(dian)、“準(zhun)備使(shi)用”狀態下， 按其(qi)正常(chang)位置放入已(yi)調到規定試驗溫度的(de)(de)高低溫老(lao)化試驗箱內。
3.2使高低溫老化試驗箱溫度調整到規定的試驗溫度下，并使試品溫度達到穩定。
3.3試(shi)品應(ying)均(jun)勻擺放在高(gao)低溫(wen)(wen)老化試(shi)驗箱內，試(shi)驗持續(xu)時間應(ying)從溫(wen)(wen)度達到穩定(ding)時算起。
3.4 各類電子器部件(jian)在組裝前應做(zuo)老化(hua)試驗。
3.5老化試(shi)驗(yan)結束(shu)后的試(shi)品應放(fang)在恢復的標準(zhun)(zhun)大氣條件 下(xia)保持1h以上。然后，按(an)有(you)關標準(zhun)(zhun)規定進行外觀檢(jian)查及有(you)關電氣、機械(xie)性(xing)能的檢(jian)測。
3.6 各(ge)類器部件及產品的(de)試驗(yan)項目按表1規定進行(xing)。
3.7除上述試驗(yan)項目(mu)外，各(ge)公司可根據產品(pin)性(xing)能(neng)和有關(guan)標準增加老(lao)化試驗(yan)項目(mu)。
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