1、范(fan)圍
    本規(gui)(gui)范規(gui)(gui)定了公司產(chan)品(pin)、半成品(pin)、及(ji)主要功能模塊的(de)高溫老(lao)化過程及(ji)操作規(gui)(gui)則。
    本(ben)規(gui)范適(shi)用于公(gong)司需進行(xing)高溫老化的(de)產品。
    2、高溫老(lao)化篩選目(mu)的

    為提高產品可靠(kao)度，消除加工(gong)應力和(he)殘余溶劑等物質，模擬嚴酷工(gong)作(zuo)環境，以鑒別和(he)剔(ti)除產品工(gong)藝和(he)元件引起的(de)早期(qi)故障，確保整機優秀品質和(he)期(qi)望壽命(ming)，進入高可靠(kao)的(de)穩定期(qi)。

    3、基本(ben)要求(qiu)
    3.1老(lao)化篩選(xuan)對象
    3.1.1進行老化試驗的產(chan)品應是裝(zhuang)配調測合格品；
    3.1.2公司(si)產品(pin)、半(ban)成品(pin)、及主(zhu)要功能模(mo)塊。
    3.2模擬(ni)狀態要求
    3.2.1為保證產(chan)品(pin)的性(xing)能穩(wen)定可靠，老化時應模擬(ni)產(chan)品(pin)工作(zuo)狀態；
    3.2.2當(dang)老化的產(chan)品需輸入信號時，應在額定輸出功率狀態(tai)下(xia)進行，同時做好散熱措施(shi)。
    3.2.3對于射頻設備應：
    a）設備的信(xin)號線(xian)和負載(zai)線(xian)的接入、接出應按(an)照基本(ben)操作要求(qiu)進行，并模擬(ni)設備的實際工作狀態；
    b）設(she)備輸(shu)出(chu)端應與阻抗匹配(pei)的(de)負載相連，負載的(de)額定功率(lv)應不(bu)小于整機額定輸(shu)出(chu)功率(lv)2倍(bei)~3倍(bei)；
    c）在信號源和設備(bei)之間，應加(jia)上隔離器或環形器；
    d）嚴禁將(jiang)大功率功放的(de)輸出信號通過(guo)合路(lu)器合路(lu)再(zai)進入負載(zai)的(de)連(lian)接方式(shi)。
    4、老化前的準備及注意(yi)事項
    a）老化(hua)前應確認高溫(wen)老化(hua)試驗室(shi)是否完好；
    b）當(dang)多臺老化產品一起進行試驗時，各老化產晶之間(jian)應有足(zu)夠的間(jian)隙，以使溫度有足(zu)夠的均勻性(xing)。
    不(bu)應將老(lao)(lao)化產品堆積或(huo)擺(bai)放無序(xu)，以免影響老(lao)(lao)化效果和對產品造成(cheng)損壞。
    5、老化溫度(du)和時(shi)間
    老化溫度、時(shi)間如下(xia)所示可(ke)任選一種：
    a）室溫條件下通電連(lian)續老化不得少于96h；
    b）40℃±2℃條件下通(tong)電連續老化(hua)不(bu)得(de)少(shao)于72h；
    c）45℃±2℃條件下通電(dian)連(lian)續老(lao)化不得少于(yu)48h；
    d）50℃±2℃條件下通電連續老化不得少于24h；
    e）55℃±2℃條件(jian)下通電(dian)連(lian)續老(lao)化不得(de)少于(yu)12h.
    6、老化(hua)程序
    6.1對老化產品施加產品標準中規定的(de)工(gong)作電壓。
    6.2在老(lao)化(hua)產品(pin)通電的(de)狀(zhuang)態下(xia)將高溫老(lao)化(hua)試驗(yan)室的(de)溫度(du)加熱至規定(ding)(ding)的(de)試驗(yan)溫度(du)，老(lao)化(hua)過程中的(de)環境溫度(du)變(bian)化(hua)應在規定(ding)(ding)溫度(du)的(de)±2℃范圍內。
    6.3老化(hua)溫(wen)度達到規(gui)定(ding)值，恒(heng)溫(wen)后開始計時。
    6.4老(lao)化過程(cheng)中應(ying)每隔2h查看老(lao)化室的運行(xing)是(shi)否穩定，特別是(shi)測(ce)量(liang)溫度。老(lao)化過程(cheng)中發(fa)現(xian)溫度異常(chang)時，應(ying)立即切(qie)斷電(dian)源。待老(lao)化室恢復正常(chang)后再繼續進行(xing)老(lao)化。
    6.5老(lao)化產(chan)品(pin)在老(lao)化過程(cheng)中應定時進(jin)行主(zhu)要性能指標檢測，具體指標種類及參數在轉(zhuan)產(chan)文件的技(ji)術說明(ming)中規定。
    a）常規產品老化，每5h~6h測試一次，并記錄測試時(shi)的溫度；
    b）常(chang)規(gui)產品(pin)老化，采用抽測方式，每(mei)次測試的產品(pin)應不少(shao)于10%；
    c）遇到所(suo)測型(xing)號設備存在問題時(shi)，應根據實際情(qing)況，增加該(gai)類產(chan)品(pin)的(de)檢測數量，并不少于10%。
    6.6老化過程中產品出現故(gu)障時(shi)，應在附錄A的備注(zhu)欄中詳細記(ji)錄故(gu)障情況(kuang)。
    6.7老化后的產品在(zai)室(shi)溫下至少放置2h后，由(you)生(sheng)產計(ji)劃部(bu)(bu)進(jin)行復(fu)測(ce)，并(bing)做好測(ce)試(shi)記錄，合格后提交檢驗部(bu)(bu)門檢驗。
    6.8單(dan)盤(pan)的測(ce)(ce)試在老化后進(jin)行，測(ce)(ce)試項目包括監(jian)控功(gong)能、輸出電(dian)壓(ya)值(zhi)等。抽測(ce)(ce)數量應不少(shao)于(yu)20%，如老化后有不合格的試驗樣品，該批次需全(quan)部測(ce)(ce)試。
    注：本規范中的單(dan)盤指(zhi)直接提供給用戶的單(dan)盤或模(mo)塊。
    7、標識
    a）老(lao)化測試(shi)合格(ge)的(de)產品(pin)，應在產品(pin)易觀查的(de)表面用綠(lv)色標(biao)簽(qian)做標(biao)識：
    b）老化(hua)測試不合格的產(chan)(chan)品(pin)，應在(zai)產(chan)(chan)品(pin)易觀查的表面用(yong)紅色標(biao)簽做標(biao)識(shi)。
    8、測試記(ji)錄(lu)
    8.1根據測試的項目填(tian)寫老化測試記錄(lu)，見附錄(lu)A。
    8.2單盤老化(hua)測試記錄見附錄B.
    8.3老化測試記錄表應(ying)每(mei)月由指定人員歸檔。
    9、老化設備(bei)維護要(yao)求
    9.1老化試(shi)驗的所(suo)有測試(shi)器件(jian)應定期進行測試(shi)檢驗，
    9.2所有老化(hua)設施(shi)的(de)檢(jian)測應(ying)每(mei)月進行(xing)一次，主要檢(jian)測項(xiang)目為：
    ——老化設備溫控系統的校應；
    ——老化負載的駐波比(bi)測試；
    ——信號源(yuan)的(de)輸出信號準確度的(de)測試：
    ——電源的(de)輸出(chu)電壓測試。

    9.3測試結果應記錄，格式按附錄C。