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技術文(wen)章
筆記本電腦可靠性檢測方案
來源: bibil.cn 時(shi)間:2020-10-23
    筆記(ji)本電腦在生產(chan)、投(tou)入量(liang)產(chan)、投(tou)入市場前均要進行可靠(kao)性檢測(ce),那么筆記(ji)本電腦有哪些可靠(kao)性檢測(ce)項目呢?
    恒溫恒濕箱:整機耐濕熱、高溫老化、冷溫儲存試驗,-40 ℃~+150 ℃,30~98% R.H.。

    冷熱沖擊箱:用于產品研發,整機、電路板及電子元件篩選,低溫 -65 ℃,高溫 150 ℃。

恒溫恒濕箱,冷熱沖擊箱,鹽霧試驗箱

    靜(jing)(jing)電(dian)放電(dian)發(fa)生器:用(yong)于產品(pin)研(yan)發(fa),電(dian)路板上(shang)電(dian)子元件在(zai)儲運、裝配及較(jiao)為干燥環境使(shi)用(yong)時,可(ke)能因(yin)靜(jing)(jing)電(dian)導致損(sun)壞(huai),靜(jing)(jing)電(dian)電(dian)壓 20 KV (正、負)。
    鹽霧試驗箱:用(yong)于(yu)模擬筆記(ji)本電(dian)腦真實使用(yong)情況耐汗、潮濕(shi)及含鹽環境。
    紫外(wai)燈(UV)試驗箱:用于模擬手機(ji)曝曬環境,筆記(ji)本(ben)電腦放在烈日(ri)下的汽車里、郊(jiao)外(wai)、沙灘使用時(shi)遇到的情(qing)況。
    防(fang)塵(chen)試驗箱(xiang):用于模擬筆記本(ben)電腦在(zai)沙漠(mo)地帶、多(duo)沙、多(duo)塵(chen)等(deng)惡劣環境的使(shi)用情(qing)況(kuang)。
    落球(qiu)(qiu)沖擊試(shi)驗機:用于筆(bi)記(ji)本電(dian)腦外殼(ke)涂(tu)料及殼(ke)體抗沖擊測試(shi),鋼球(qiu)(qiu)重量(liang) 100、200、300、500、1000、2000g 沖擊高度200~2000mm。
    振動(dong)試驗:用于(yu)產(chan)(chan)品研發,模(mo)擬產(chan)(chan)品在運輸過(guo)程中(zhong)的(de)振動(dong)環境,提(ti)前(qian)發現產(chan)(chan)品設計及裝配過(guo)程存(cun)在的(de)缺陷(xian),頻率(lv) 5000 Hz,位移 25 mm,電腦控制。
    印刷(shua)體耐(nai)磨(mo)擦試驗機:用于筆(bi)記本電腦表面噴(pen)涂(tu)耐(nai)磨(mo)、劃痕性能測試,介(jie)質酒精(jing)棉布(bu)、鉛筆(bi)、橡皮(pi)擦 荷重 80 ~ 1000 克。
    按鍵(jian)壽命(ming)測試機(ji):用于筆記本電(dian)腦鍵(jian)盤(pan)之(zhi)疲勞測試,荷重 80 克(ke)(ke)~500 克(ke)(ke)。
    NOTE-BOOK 轉軸(zhou)壽(shou)命(ming)試驗機:用于筆記本電(dian)腦轉軸(zhou)疲勞壽(shou)命(ming)測試,角度 5~ 1800,速率 5~15 次。
    混合記錄儀:用于測試筆記本(ben)電腦研(yan)發,測量電腦運行時(shi)多個部件溫(wen)度(du)、電壓、電流等特性(xing)變(bian)化。
    插拔(ba)力測試機:用于筆記本(ben)電腦(nao) USB、1394、音頻輸(shu)出端、電源適配器輸(shu)入(ru)端及(ji)外(wai)掛設備連接端等(deng)端口插入(ru)、拔(ba)出力疲勞(lao)測試等(deng),速率 10~60 次/min,數顯荷重(zhong)容量 50Kg。

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