1、范圍(wei)
本部分規定了(le)炮射(she)導彈的溫(wen)度循環(huan)試(shi)驗方法。
本部(bu)分適用于(yu)炮射導彈溫度(du)循環試(shi)驗。
2、規范(fan)性引用(yong)文件
下(xia)列文(wen)件(jian)中的(de)(de)條款通過(guo)本部分(fen)的(de)(de)引(yin)用(yong)而成(cheng)(cheng)為本部分(fen)的(de)(de)條款。凡(fan)是(shi)(shi)注日(ri)期(qi)的(de)(de)引(yin)用(yong)文(wen)件(jian),其(qi)隨后所有的(de)(de)修改(gai)單(不(bu)包含(han)勘誤的(de)(de)內容)或修訂版均不(bu)適(shi)用(yong)于(yu)本部分(fen),然而,鼓(gu)勵根(gen)據本部分(fen)達成(cheng)(cheng)協議的(de)(de)各方研究是(shi)(shi)否可使(shi)用(yong)這些文(wen)件(jian)的(de)(de)新(xin)版本。凡(fan)是(shi)(shi)不(bu)注日(ri)期(qi)的(de)(de)引(yin)用(yong)文(wen)件(jian),其(qi)新(xin)版本適(shi)用(yong)于(yu)本部分(fen)。
GJB 150.3-1986軍用設備環境(jing)試驗方法高溫(wen)試驗
GJB 150.4-1986
軍用(yong)設備環境試(shi)驗方法低溫試(shi)驗
GJB 5389.1-2005炮(pao)射導彈試驗方法第1部(bu)分:總(zong)則
GJB 5389.2-2005炮射導(dao)彈(dan)試(shi)驗方法(fa)第2部分:外觀(guan)檢查
GJB 5389.6-2005炮射導彈試驗方法第6部(bu)分:密封性檢測
GJB 5389.12-2005炮射導(dao)彈試驗方法第(di)12部分:靜態電參數檢測
3、目的
檢查炮射導彈從低溫環(huan)境條(tiao)件到高溫環(huan)境條(tiao)件周期變化(hua)的情況下(xia)能否正常使(shi)用。
4、試驗儀(yi)器、設備、裝(zhuang)置及其(qi)要求(qiu)
4.1導彈靜態電(dian)參數(shu)檢測(ce)儀
應符合GJB 5389.12-2005中4.1的要(yao)求。
4.2壓力計
壓(ya)力范圍(wei)及控制精度應滿(man)足帶(dai)炮射導(dao)彈的內包裝及炮射導(dao)彈密封性測試要(yao)求。
4.3壓縮空氣(qi)機(ji)
壓縮空氣機應符合下列要求:
A)壓縮(suo)排風量為不小于0.2m3/min,系統中(zhong)應(ying)配備空氣過濾(lv)裝置;
B)出風口(kou)應配備(bei)空氣(qi)過(guo)濾減壓器,其輸(shu)出為0.6MPa,流量為3m3/h。
4.4 過濾裝置
過濾的壓縮(suo)空氣應干燥(zao)潔凈,其(qi)污染度(du)不大于3級(ji),露點不超過-40℃。
4.5托彈架
應能穩固地支撐炮射(she)導彈。
4.6密封(feng)接(jie)頭(tou)
應(ying)能與受(shou)試(shi)品(pin)可(ke)靠連接,保證密封。
4.7高溫試(shi)驗箱(室)
高溫試驗箱(室)應符合下列要求:
a)應符合GJB 150.3-1986中第3章(zhang)的要求;
b)應是防爆的,且(qie)有可靠接地線;
c)容積應(ying)不(bu)小于3m×3m×2.5m。
4.8低溫試驗箱(室)
低溫試驗(yan)箱(室)應符合下列要求:
a)應符合GJB 150.4-1986中第3章的要求;
b)應是防爆的(de),且有可靠接地線(xian);
c)容(rong)積應(ying)不小于3m×3m×2.5m。
4.9防爆室或防爆裝甲箱
應能(neng)保證檢測安全。
5、受試品
除另有(you)規定(ding)外,一般用模(mo)擬“前置戰(zhan)斗部、主(zhu)戰(zhan)斗部、增速發(fa)動機主(zhu)裝(zhuang)藥和點燃藥柱、增速發(fa)動機電(dian)點火(huo)具(ju)(ju)、點火(huo)藥包及發(fa)射藥、發(fa)射電(dian)點火(huo)具(ju)(ju)、底火(huo)”改裝(zhuang)的炮射導(dao)彈。
6、試驗條件
除另(ling)有規(gui)定外,應(ying)符合GJB 5389.1-2005中(zhong)4.1、4.2的要求。
7、試驗程序
7.1 將受試品放(fang)在(zai)第6章(zhang)規定的(de)條件下6h。
7.2按GJB 5389.2-2005的規定對受試品(pin)進行外觀檢(jian)查。
7.3按GJB 5389.12-2005中第7章的(de)規定(ding)對受試品進行電參數檢測。
7.4 按GJB 5389.6-2005中第7章的規定對受試品進行密封(feng)性檢測。
7.5除另有(you)規定外,將低溫(wen)(wen)(wen)箱(室(shi))溫(wen)(wen)(wen)度降至-50℃±2℃,高(gao)溫(wen)(wen)(wen)箱(室(shi))溫(wen)(wen)(wen)度升至60℃±2℃。
7.6 將受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)放置(zhi)在(zai)(zai)(zai)低(di)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))內的托彈架上,在(zai)(zai)(zai)-50℃±2℃溫度(du)下保(bao)溫6h。然后將受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)從低(di)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))內取出,迅速放入高(gao)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))內的托彈架上,在(zai)(zai)(zai)60℃±2℃溫度(du)下保(bao)溫6h。此時溫循試(shi)(shi)驗(yan)為一個周(zhou)期。受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)經(jing)三個溫循試(shi)(shi)驗(yan)周(zhou)期的作(zuo)用或(huo)者按有關標準或(huo)技術(shu)文件的規定進行試(shi)(shi)驗(yan)。受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)從低(di)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))移置(zhi)高(gao)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))或(huo)相反(fan)移置(zhi)的時間(jian)(jian)不許超過3min。受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)在(zai)(zai)(zai)低(di)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))或(huo)在(zai)(zai)(zai)高(gao)溫箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))中保(bao)溫時間(jian)(jian)是將受(shou)(shou)試(shi)(shi)品(pin)(pin)裝入試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)(室(shi)(shi))后溫度(du)達到規定溫度(du)的瞬間(jian)(jian)開始(shi)計算(suan)。
7.7后一個溫(wen)循試驗周期結(jie)束后,關閉低(di)溫(wen)箱(室)和高溫(wen)箱(室)。
7.8將(jiang)受試品從高溫(wen)箱(室(shi))中取出,按GJB 5389.12-2005的規定對(dui)受試品進行(xing)電參數檢測(ce)。 7.9按(an)GJB 5389.6-2005中第7章(zhang)的規定對受(shou)試品(pin)進行密(mi)封(feng)性檢測。
7.10除另有規(gui)定外,將受試品放(fang)在第6章(zhang)規(gui)定的(de)條(tiao)件下6h。
7.11按GJB 5389.2-2005的(de)規定對受試品進行外觀檢查。
7.12按GJB
5389.12-2005中第7章的規定(ding)對受試品進行電參數檢測。
7.13記錄試驗(yan)過程所測的各種參數值。
8、試驗報告
按GJB 5389.1-2005中第(di)6章的規定寫出試驗報告。