1、目(mu)的

    本試驗方法主要適用于防潮性評估和耐用性試驗，并可作為無偏高壓蒸煮試驗的替代。樣品在非冷凝、潮濕的環境中進行類似于JESD22-A101“穩態溫度、濕度和偏差壽命試驗”，但溫度較高。對于本程序規定的溫度限值，試驗通常會產生與無偏“85℃/85%RH”穩態濕度壽命試驗相同的失效機制，但如果考慮到更高的溫度，則必須注意，因為可能會產生不切實際的失效機制。使用非冷凝環境可避免許多不相關的外部故障，如pin腳間泄漏或鉛腐蝕。然而，由于吸收的水分通常會降低大多數聚合物材料的玻璃化轉變溫度，高濕度和高溫（>tg）的結合可能會產生不切實際的材料失效。因此，如果出于可靠性或鑒定目的的無偏HAST，則需要謹慎。
    無偏hast方法是為了評估非密封封裝固態器件在潮濕環境中的可靠性的試驗方法。這是一種高度加速試驗，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護材料和金屬導體之間的界面滲透。本試驗中不采用偏壓，以確保可能被偏壓掩蓋的失效機制可以被揭示（如電偶腐蝕)。此測試用于識別封裝內部的故障機制，具有破壞性。

    2、試(shi)驗設備

    試驗需要一個HAST試驗箱，該試驗箱能夠在規定試驗條件的上升和下降過程中保持規定的溫度和相對濕度。
    2.1校準記錄
    建議對(dui)每個(ge)試驗(yan)循環的(de)溫度(du)分布進行記(ji)錄，以便驗(yan)證(zheng)應力條件(jian)。校準記(ji)錄應驗(yan)證(zheng)在熱質(zhi)量負載條件(jian)下，設備在升溫和降溫過程(cheng)中避免在溫度(du)高于50℃的(de)被測設備(DUT)上(shang)冷凝。校準記(ji)錄應驗(yan)證(zheng)，對(dui)于穩(wen)態條件(jian)和熱質(zhi)量負載，試驗(yan)條件(jian)保持在表(biao)1規定的(de)公差范圍內。
    2.2壓力裝置
    受試(shi)(shi)樣品(pin)(pin)必(bi)須放置在HAST試(shi)(shi)驗(yan)箱中，以(yi)使溫度(du)梯度(du)小化。受試(shi)(shi)樣品(pin)(pin)與內(nei)腔表面的(de)距離不得小于3cm，且不得受到加熱(re)器直接輻(fu)射熱(re)的(de)影響。如(ru)果(guo)樣品(pin)(pin)安裝(zhuang)在試(shi)(shi)驗(yan)板(ban)上(shang)，試(shi)(shi)驗(yan)板(ban)的(de)方(fang)向應(ying)盡(jin)量減少(shao)對(dui)蒸(zheng)汽循環(huan)的(de)干(gan)擾。
    2.3離子(zi)污染
    在選擇任何引入HAST試(shi)(shi)驗箱的材料時(shi)，必須小心(xin)謹慎，以盡量減少(shao)污染物的釋放，并盡量減少(shao)由于腐(fu)蝕(shi)和其他機(ji)制造(zao)成的降解(jie)。應控(kong)制試(shi)(shi)驗裝置的離(li)子污染，以避(bi)免試(shi)(shi)驗受影響。
    2.4蒸(zheng)餾或去離子
    應使用室溫下電阻率小為1MΩ·cm的蒸餾水或去離子水。

    3、試驗條件

    測試(shi)條件包括(kuo)溫度(du)、相(xiang)對濕度(du)和持續時間。

    注(zhu)1公(gong)差適用于整個可用試驗區域。
    注2︰僅(jin)供參考
     注3試(shi)驗條(tiao)件(jian)應連續應用，除非在(zai)任(ren)何(he)臨時讀數期間。對于(yu)臨時讀數，設備應在(zai)4.4規定的時間內恢復應力
    注4:無偏HAST持(chi)續時(shi)(shi)間旨在(zai)滿足或(huo)超(chao)過使用條(tiao)件下的(de)等效(xiao)壽命。根據應力(li)加速度確定持(chi)續時(shi)(shi)間(見jep122)。應力(li)持(chi)續時(shi)(shi)間由內部(bu)資格要求、jesd47或(huo)適用的(de)采購文件規定。典型的(de)測試持(chi)續時(shi)(shi)間為(wei):
    注意:對于塑(su)封的微(wei)電路(lu)，眾所周知(zhi)，濕氣會(hui)降低塑(su)料的有效(xiao)玻(bo)璃化轉(zhuan)變溫度(du)。高于有效(xiao)玻(bo)璃化轉(zhuan)變溫度(du)的應力溫度(du)可(ke)能導致與操作使用(yong)無關的失效(xiao)機(ji)制。

    4、試驗(yan)步驟

    試(shi)驗裝置的(de)安裝方式應使其(qi)暴(bao)露在(zai)規(gui)定的(de)溫度和濕度條(tiao)件下(xia)(xia)。應避免設(she)備暴(bao)露在(zai)導致冷凝的(de)條(tiao)件下(xia)(xia)，特(te)別是在(zai)上(shang)升和下(xia)(xia)降過程中。當(dang)設(she)備溫度高于30℃時，R.H.必須≥40%，以(yi)確保其(qi)水分(fen)含量不降低，即不適(shi)當(dang)的(de)水分(fen)烘(hong)烤。
     4.1升溫
    4.1.1達到穩定溫度(du)(du)和相對濕度(du)(du)條件的時(shi)間應少于3小時(shi)。
    4.1.2應通過確(que)保(bao)HAST試驗箱(xiang)（干(gan)球）溫(wen)度(du)始(shi)終(zhong)超過濕(shi)球溫(wen)度(du)來避免(mian)冷凝，且升溫(wen)速率不得過快，以(yi)確(que)保(bao)任(ren)何被測設(she)備的(de)溫(wen)度(du)不會滯后于濕(shi)球溫(wen)度(du)。
    4.1.3干(gan)球和濕球溫度(du)設定值，應確保在(zai)加(jia)熱開始后，相對濕度(du)不低(di)于50%。在(zai)干(gan)燥的(de)實驗室中，試驗室環境初(chu)可能比這干(gan)燥。
    4.2降溫
    4.2.1緩(huan)降至稍(shao)正表壓(ya)（濕球溫度約104℃)的部分應足夠(gou)長，以(yi)避免(mian)因(yin)快速降壓(ya)而(er)產生的試驗影(ying)響(xiang)，但應小(xiao)于3小(xiao)時。
    4.2.2當HAST試驗(yan)箱通風時(shi)，應進(jin)行從104℃濕球溫度到室(shi)溫的(de)第二部(bu)分應務下降。沒(mei)有時(shi)間限制，允(yun)許強制冷卻(que)容(rong)器(qi)。
    4.2.3通過(guo)確保HAST試驗箱（干球(qiu))溫度始終(zhong)超過(guo)濕球(qiu)溫度，應避免(mian)應力(li)下(xia)降的兩(liang)個部分出現(xian)樣品上(shang)的冷凝。
    4.2.4應(ying)力下降(jiang)應(ying)保持封(feng)裝塑(su)料的含水量(liang)。因(yin)此，在應(ying)力下降(jiang)的部分，相對濕度不得小于50%，見4.2.1。
    4.3試(shi)驗時(shi)間
    當溫度(du)和(he)相對濕(shi)度(du)達(da)到(dao)設(she)定(ding)值時，測試(shi)時鐘開始，并在斜坡下降開始時停止(zhi)。
    4.4信息(xi)讀出
    電氣試驗應(ying)在(zai)(zai)應(ying)力下(xia)降結(jie)束(shu)后(hou)48小(xiao)(xiao)時(shi)(shi)內進行(xing)。注:對于(yu)中(zhong)(zhong)間讀(du)數，樣(yang)(yang)品(pin)應(ying)在(zai)(zai)應(ying)力下(xia)降結(jie)束(shu)后(hou)96小(xiao)(xiao)時(shi)(shi)內恢復(fu)應(ying)力。將樣(yang)(yang)品(pin)放(fang)在(zai)(zai)密(mi)封(feng)(feng)的防(fang)(fang)潮(chao)袋中(zhong)(zhong)，可以(yi)(yi)降低樣(yang)(yang)品(pin)從(cong)試驗箱(xiang)中(zhong)(zhong)取出后(hou)的水分(fen)損失率(lv)，袋子應(ying)為(wei)非真空密(mi)封(feng)(feng)，無需(xu)氮(dan)氣吹(chui)掃(sao)，也(ye)無需(xu)干燥劑。當樣(yang)(yang)品(pin)放(fang)置在(zai)(zai)密(mi)封(feng)(feng)袋中(zhong)(zhong)時(shi)(shi)，“測(ce)(ce)試窗(chuang)口時(shi)(shi)鐘”以(yi)(yi)樣(yang)(yang)品(pin)暴露于(yu)實驗室(shi)環境的速率(lv)的1/3運行(xing)。因此，通過將裝(zhuang)置密(mi)封(feng)(feng)在(zai)(zai)防(fang)(fang)潮(chao)袋中(zhong)(zhong)，測(ce)(ce)試窗(chuang)口可延長(chang)至(zhi)144小(xiao)(xiao)時(shi)(shi)，恢復(fu)應(ying)力的時(shi)(shi)間可延長(chang)至(zhi)288小(xiao)(xiao)時(shi)(shi)。
    注(zhu)1:應選(xuan)擇電(dian)氣(qi)試驗參數(shu)以保留(liu)任何缺陷(即，通(tong)過限制施加的試驗電(dian)流)。
    注2:如(ru)果技(ji)術數據(ju)合理，則允許(xu)額外的(de)測試延遲(chi)時間(jian)或(huo)恢(hui)復應力(li)延遲(chi)時間(jian)。
    4.5處(chu)理
    應使用合適的(de)手套來(lai)處理(li)樣(yang)品、試(shi)(shi)驗板和固定(ding)裝置。污染控制在任何高度(du)加(jia)速的(de)濕(shi)度(du)應力試(shi)(shi)驗中都很重要(yao)。

    5、失效判斷

    如(ru)果超(chao)過參數限制，或(huo)在適用采購文件或(huo)數據表(biao)中規定的標稱和壞情況(kuang)下無法(fa)實驗功能，則視為樣(yang)品失(shi)效。

    6、安全法規

    遵循(xun)設備制造商的建議和(he)當地安全法規。

    7、總(zong)結

    適用的采購文件應規(gui)定以(yi)下(xia)細節:
    (a)試驗持續時(shi)間。
     (b)測試條件(jian)。
    (c)試驗(yan)后的(de)測量(liang)。