目前，在集成電路IC領域，環境可靠性測試設備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢？這由于HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料（塑封料或絲印）或沿外保護物料與金屬導電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內部的失效機制，并且是破壞性的。
高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱可(ke)(ke)分為高(gao)低溫(wen)運行測(ce)(ce)(ce)試、高(gao)低溫(wen)貯(zhu)存測(ce)(ce)(ce)試、高(gao)低溫(wen)交(jiao)變測(ce)(ce)(ce)試、高(gao)低溫(wen)循(xun)環測(ce)(ce)(ce)試、溫(wen)度(du)(du)沖擊測(ce)(ce)(ce)試等(deng)，雖然可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)試的項目較多，可(ke)(ke)測(ce)(ce)(ce)試集(ji)成(cheng)電路(lu)IC在不同溫(wen)度(du)(du)條(tiao)件下的使用(yong)壽命(ming)，但只是(shi)單一的溫(wen)濕(shi)度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)試不夠精(jing)確的測(ce)(ce)(ce)試產品在氣壓(ya)下的使用(yong)情況。而HAST高(gao)壓(ya)加速老化(hua)測(ce)(ce)(ce)試集(ji)溫(wen)度(du)(du)-濕(shi)度(du)(du)-壓(ya)力（非飽和可(ke)(ke)調）一體，多方面測(ce)(ce)(ce)試集(ji)成(cheng)電路(lu)IC，評估產品的失效機制(zhi)。
高低溫試(shi)驗箱的產品優(you)勢：
1、極限測試(shi)溫度可達300℃，低(di)(di)溫-200℃，電耗低(di)(di)；
2、低溫(wen)長期1000小時以上不結霜；
3、可編(bian)程控(kong)制，可通(tong)過互聯(lian)網、WIFI、手(shou)機(ji)APP等監控(kong)設備運行情(qing)況。
HAST試驗箱(xiang)的產品優勢：
1、濕(shi)(shi)度可調(diao)式溫(wen)度-濕(shi)(shi)度-壓力一體(ti)試(shi)驗設(she)備，測試(shi)穩定性高；
2、可配置多個(ge)測(ce)試端口供給用戶產(chan)品(pin)帶電測(ce)試；
3、設(she)備升溫時自動預(yu)排(pai)空(kong)氣(qi)潔凈度(du)(du)，確保箱內純凈度(du)(du)；
4、箱體采用耐高壓設計技術，確保設備、操作(zuo)人員(yuan)安全(quan)。
