首頁 方案 產品 我們

聚焦瑞凱,傳遞環境檢測行業新動態
技(ji)術文章
加速試驗中,HAST和HASS的區別
來源: bibil.cn 時間:2020-10-16

    HAST和HALT&HASS都屬于加(jia)(jia)速(su)試(shi)驗(yan),加(jia)(jia)速(su)試(shi)驗(yan)是指(zhi)在保證不改變產(chan)品(pin)失(shi)(shi)效(xiao)機(ji)理的(de)前提下,通(tong)過(guo)強化試(shi)驗(yan)條件,使受試(shi)產(chan)品(pin)加(jia)(jia)速(su)失(shi)(shi)效(xiao),以便在較短時間內獲得必要信息,來評估產(chan)品(pin)在正(zheng)常(chang)條件下的(de)可(ke)(ke)靠性或壽命指(zhi)標,通(tong)過(guo)加(jia)(jia)速(su)試(shi)驗(yan),可(ke)(ke)迅速(su)查明產(chan)品(pin)的(de)失(shi)(shi)效(xiao)原(yuan)因。


失效率曲線

(失(shi)效(xiao)率曲線:指產(chan)品從(cong)投入到報廢為止的(de)整個(ge)壽命(ming)周(zhou)期內,其可(ke)靠性(xing)的(de)變化呈現(xian)一定的(de)規律。)

    雖然HAST和(he)HALT&HASS都(dou)同為加(jia)速試驗,但是(shi)它們(men)之間(jian)卻存在差(cha)異,為找出產品的(de)(de)失(shi)效原因扮演(yan)著不同的(de)(de)角色,尤(you)其(qi)是(shi)HAST和(he)HASS試驗,這兩者之間(jian)的(de)(de)名(ming)字十分相似,只差(cha)了(le)一個字母,很(hen)容易被混淆(xiao),為了(le)幫助各位更好的(de)(de)了(le)解HAST和(he)HASS各自的(de)(de)試驗內容,接下來我們(men)就來談(tan)談(tan)HAST和(he)HASS的(de)(de)區別。
    什么是HAST測試?
    高度加速的溫度和濕度壓力測試(HAST)是一個高度加速,以溫度和濕度為基礎的電子元件可靠性試驗方法。隨著進來電子技術的高速發展,幾年前剛剛出現的加速試驗可能不再適應當今的技術了,尤其是那些專門針對微電子產品的加速試驗。例如,由于塑料集成電路包的發展,現在用傳統的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數情況下,試驗樣本在整個試驗中不發生任何失效。因此,需要進一步改進加速試驗。HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發的方法。
    什(shen)么(me)是HASS測試?
    高加速應(ying)力篩選試驗(HASS)是(shi)(shi)加速環境應(ying)力篩選的一(yi)種形(xing)式。它代表(biao)了(le)產品所經(jing)歷(li)的嚴酷的環境,但通常持續很有限的一(yi)段時(shi)間。HASS是(shi)(shi)為(wei)達到“技術的根(gen)本極(ji)限”而(er)設計的。此時(shi)應(ying)力的微小增加就會(hui)導(dao)致失效(xiao)數(shu)的大量增加。這種根(gen)本極(ji)限的一(yi)個例子是(shi)(shi)塑料的軟化點。
    講完這兩者的基本概念,我們接下來可以開(kai)始分(fen)析它(ta)們之間究竟有什么區別了。
    HAST和HASS的區(qu)別一(yi)
    HASS是一個篩(shai)選工具,HAST代替老的(de)85℃/85%RH試驗而開發(fa)的(de)方(fang)法。
    HASS與其說是(shi)可靠性(xing)試驗,其實更像是(shi)幫助研(yan)發在(zai)產(chan)品(pin)的(de)(de)生產(chan)階(jie)段(duan),通(tong)過設(she)(she)置高于產(chan)品(pin)設(she)(she)計(ji)運行極限(xian)的(de)(de)環境(jing)應(ying)力,來篩(shai)選發現(xian)零部件和組裝中存(cun)在(zai)的(de)(de)缺陷并(bing)實施必要的(de)(de)改進措施,實現(xian)剔除有缺陷的(de)(de)部件或(huo)元器件的(de)(de)工具(ju)。
    ;而HAST則是傳統的(de)(de)高溫/高濕度(du)測試(shi)(85℃/85%RH)的(de)(de)升級版,可(ke)以更(geng)加(jia)快(kuai)速的(de)(de),并且用(yong)更(geng)嚴峻惡劣的(de)(de)環境模擬使潛在的(de)(de)缺陷或者設計薄弱環節發(fa)展為實際的(de)(de)失(shi)效(xiao),確認可(ke)能導致使用(yong)中失(shi)效(xiao)的(de)(de)設計、分配(pei)或者制造過程問(wen)題。
    HAST和(he)HASS的(de)區別(bie)二
    HAST的(de)加速(su)方法只適用(yong)于(yu)零件級的(de)試驗(yan);HASS的(de)加速(su)方法只適用(yong)于(yu)設備級的(de)試驗(yan)。

以(yi)下這個表,可以(yi)看出零件(jian)級和(he)設(she)備級的區別和(he)局限:

零件級和設備級的區別和局限

    HAST和(he)HASS的區別三
    HAST和HASS的測試標準條件不同。
    HASS試(shi)驗包括三(san)個主要(yao)試(shi)程:
    一、HASS Development(HASS試驗計劃(hua)階段)
    二(er)、Proof-of-Screen(計劃(hua)驗證階段(duan))

    三、Production HASS(HASS執行階(jie)段)

典型的綜合環境應力試驗曲線圖

(典型(xing)的(de)綜合環境應力(li)試驗曲線圖(極限(xian)情況))

    HAST測(ce)試是(shi)在指定的(de)溫度(du)(du)和(he)(he)(he)相對溫度(du)(du)下(xia)進行濕度(du)(du)或壓力。大氣通(tong)常具有(you)至少(shao)100℃的(de)溫度(du)(du),在a水蒸汽加壓狀態。有(you)飽和(he)(he)(he)和(he)(he)(he)HAST的(de)不飽和(he)(he)(he)品種。前者通(tong)常在121℃和(he)(he)(he)100%RH的(de)條件下(xia)完(wan)成,后(hou)者在110、120或130℃和(he)(he)(he)85%RH的(de)條件下(xia),完(wan)成測(ce)試電子元件的(de)通(tong)電通(tong)常是(shi)不飽和(he)(he)(he)類型。

JESD22-A118中HAST無偏壓試驗條件

(JESD22-A118中HAST無(wu)偏壓(ya)試驗條件(jian))

    HAST和HASS的區別四
    HAST和HASS的試驗設備要求(qiu)不同。
    RK-HAST-350高壓加速老化試驗箱
    設備(bei)特點:
    1、內膽采(cai)用雙(shuang)層圓弧設(she)計,可防止試(shi)驗結露(lu)滴水現象(xiang),從而避(bi)免產品(pin)在試(shi)驗過程中(zhong)受過2、熱蒸汽直接沖擊影響(xiang)試(shi)驗結果。
   ; 3、采用(yong)高效真空泵,使箱內達到佳純(chun)凈飽和蒸汽(qi)狀態。
    4、采用7寸真彩式觸摸(mo)屏(ping),具有USB曲線數據下載功能,RS-485通訊接口。
    5、汽車級硅膠整體密(mi)封條,氣密(mi)性好,耐用。
    6、全自(zi)動補水(shui)功能,前置式水(shui)位確認。

    7、采用干濕球傳感器直接測量(控制模式(shi)分為:干濕球、不飽和、濕潤飽和等(deng)3種模式(shi))

HAST高壓加速老化試驗箱

    HASS試驗(yan)設備要求(qiu)
    (HASS設備要求)
    1、使用(yong)液氮降溫
    快速的溫(wen)(wen)變(bian)速率(lv),產(chan)品的溫(wen)(wen)度變(bian)率(lv)可(ke)達到60℃/min。
    溫(wen)度操作(zuo)范圍為-100℃~+200℃。
    2、反復(fu)沖(chong)擊式(shi)振動
    三軸和轉向同(tong)時施(shi)力,同(tong)時要達成三軸(X、Y、Z)旋轉(轉、拋、偏),能快速講(jiang)設計缺陷顯示出來。
    涵蓋頻率范圍廣(guang)(2-10KHz)。
    3、復合(he)應力環境(jing)
    溫(wen)度和振動。
    4、低(di)環(huan)境噪音(yin)<73dba。
    以上就是HAST和(he)HASS的(de)區別淺析,希望可以幫助(zhu)各位更好的(de)了(le)解HAST試(shi)驗(yan)和(he)HASS試(shi)驗(yan),選(xuan)擇適(shi)合所研發產(chan)品的(de)加速(su)試(shi)驗(yan),降低PPM(百萬失(shi)效率(lv)),降低維(wei)修成本,達到價(jia)值化。

相關資訊