可(ke)靠(kao)性(xing)增(zeng)長試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)、可(ke)靠(kao)性(xing)鑒定試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)收(shou)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)是三種常(chang)見的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)，它們有什么相同(tong)點(dian)和(he)不同(tong)點(dian)呢(ni)，以下對其從試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)目的(de)、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)條件(jian)、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)案或項目、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)(yan)合格性(xing)和(he)受試(shi)(shi)(shi)(shi)產品的(de)失效判據五個方(fang)面進(jin)行分析：

    (一(yi)) 試(shi)驗目的

    1、可靠性增長試(shi)驗
    在研制(zhi)過程中模擬(ni)實際的或(huo)加速的使(shi)用條件(jian)進行試驗，使(shi)產品(pin)存在的設計(ji)(ji)（包括電路設計(ji)(ji)、結構設計(ji)(ji)和(he)工藝設計(ji)(ji)）缺陷(xian)變為硬故(gu)(gu)障而充分暴露(lu)，對故(gu)(gu)障進行分析(xi)、采取糾正措(cuo)施，根除(chu)故(gu)(gu)障產生的原因(yin)或(huo)降低故(gu)(gu)障率到可以接受的值，使(shi)產品(pin)的固(gu)有(you)可靠(kao)性得到增(zeng)長。
    2、可靠(kao)性(xing)鑒(jian)定(ding)試驗
    驗(yan)(yan)證產品的(de)設(she)計能否(fou)在規(gui)定(ding)(ding)的(de)環境條件(jian)下滿足規(gui)定(ding)(ding)的(de)性能及可靠性要求。試驗(yan)(yan)結果(guo)作(zuo)為判斷設(she)備能否(fou)定(ding)(ding)型的(de)依據。適用于(yu)設(she)計定(ding)(ding)型的(de)鑒定(ding)(ding)。
    3、可(ke)靠性驗收試驗
    對產品(pin)(pin)各項(xiang)指標進行全面檢(jian)(jian)驗(yan)，以(yi)評定(ding)(ding)產品(pin)(pin)質量(liang)(liang)(liang)和(he)(he)(he)可靠性是否全部符合標準和(he)(he)(he)達(da)到(dao)設計要求。對于批量(liang)(liang)(liang)生產的產品(pin)(pin)檢(jian)(jian)驗(yan)其質量(liang)(liang)(liang)穩定(ding)(ding)性和(he)(he)(he)一致性。適用(yong)于生產定(ding)(ding)型、批量(liang)(liang)(liang)生產后的一定(ding)(ding)周期和(he)(he)(he)在產品(pin)(pin)設計、工(gong)藝、材料有(you)較大(da)變動后的檢(jian)(jian)驗(yan)。

    (二) 試驗條(tiao)件

    1、電應力
    1.1 可靠(kao)性增長試驗
    根據(ju)輸入(ru)交流電壓(ya)(ya)和輸入(ru)直(zhi)流電壓(ya)(ya)的允許變化(hua)范(fan)(fan)圍(wei)，部(bu)(bu)分(fen)時間在(zai)(zai)設計的標稱輸入(ru)電壓(ya)(ya)下(xia)工作(zuo)，部(bu)(bu)分(fen)時間在(zai)(zai)輸入(ru)電壓(ya)(ya)下(xia)工作(zuo)，部(bu)(bu)分(fen)時間在(zai)(zai)輸入(ru)電壓(ya)(ya)下(xia)工作(zuo)。例(li)如：程控(kong)用戶交換機應在(zai)(zai)AC220V，DC-48V、DC-40V～-57V范(fan)(fan)圍(wei)內正常完成(cheng)接(jie)續。
    1.2 可靠性鑒定試驗
    同可靠(kao)性(xing)增長(chang)試驗。
    1.3 可靠性驗收試驗
    除(chu)電(dian)(dian)源電(dian)(dian)壓拉偏(pian)試驗外，在標稱輸入電(dian)(dian)壓下工作。電(dian)(dian)源拉偏(pian)試驗根據不同的產品參考有關標準在、電(dian)(dian)壓下工作。
    2、熱應(ying)力
    2.1 可靠性增(zeng)長試驗
    所施(shi)加的應力強度(du)(du)可略高于使用時(shi)的應力強度(du)(du)，以(yi)不引起(qi)新的故障(zhang)機理為限(xian)。如溫(wen)(wen)度(du)(du)循環(huan)一般可以(yi)將略高于產(chan)品(pin)高溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)、略低(di)于產(chan)品(pin)低(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)作為溫(wen)(wen)度(du)(du)循環(huan)的上、下限(xian)溫(wen)(wen)度(du)(du)，溫(wen)(wen)度(du)(du)變化率可取(qu)5℃/min或10℃/min。循環(huan)周期時(shi)間根據(ju)溫(wen)(wen)度(du)(du)變化率而(er)定。
    2.2 可靠性鑒定試(shi)驗
    將產品工作(zuo)高溫溫度作(zuo)為試驗溫度。
    2.3 可靠性驗收(shou)試驗
    按產品(pin)標準的(de)工作(zuo)高、低溫溫度進行(xing)(xing)各種(zhong)功能和指標的(de)檢驗(yan)。按產品(pin)標準的(de)儲運高、低溫溫度進行(xing)(xing)儲運試驗(yan)。

    (三(san)) 試驗(yan)方案或試驗(yan)項目(mu)

    1、可(ke)靠性增長試驗
    可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)增長(chang)方案：可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)增長(chang)應(ying)(ying)有增長(chang)目標值(zhi)（θ0可(ke)(ke)接受質量水平），必須要(yao)有可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)增長(chang)模(mo)型。典型的(de)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)增長(chang)模(mo)型有Duane模(mo)型和Amsaa模(mo)型。在(zai)試驗達到終點應(ying)(ying)該達到或超過規(gui)定的(de)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)指(zhi)標。
    2、可靠性鑒定試驗
    試驗(yan)方案(an)的種類有兩種：定時截尾試驗(yan)方案(an) 、截尾序貫試驗(yan)方案(an) 。
    3、可靠(kao)性驗收試(shi)驗
    試(shi)(shi)驗(yan)項目(mu)包括：高溫(wen)工(gong)作(zuo)(zuo)試(shi)(shi)驗(yan)、高溫(wen)儲(chu)存試(shi)(shi)驗(yan)、低(di)溫(wen)工(gong)作(zuo)(zuo)試(shi)(shi)驗(yan)、低(di)溫(wen)儲(chu)存試(shi)(shi)驗(yan)、恒(heng)定濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)、運輸（振動）試(shi)(shi)驗(yan)等(deng)。

    (四) 試驗合格(ge)性

    1、可(ke)靠性(xing)增長試驗
    在規(gui)(gui)范(fan)化的(de)試驗設備中(zhong)，當試驗結果達到規(gui)(gui)定的(de)可靠性(xing)指標，認(ren)為(wei)合格(ge)(ge)。若增長試驗結束(shu)時未達到規(gui)(gui)定的(de)可靠性(xing)指標，則作為(wei)不合格(ge)(ge)處(chu)理。
    2、可靠(kao)性鑒定試驗(yan)
    按選擇的(de)(de)統計試驗方案(an)規定(ding)的(de)(de)接收或拒(ju)收判據作(zuo)為產品(pin)是否合格(ge)的(de)(de)依據。
    3、可靠(kao)性(xing)驗收試驗
    判別水平(ping)和(he)抽樣(yang)方案在GB 2829 中選(xuan)擇。產品質(zhi)(zhi)量(liang)以不(bu)合(he)格數(shu)表示。產品質(zhi)(zhi)量(liang)等(deng)級的終判定(ding)按檢測項目所達到(dao)(dao)的質(zhi)(zhi)量(liang)等(deng)級確定(ding)。（即B類不(bu)合(he)格數(shu)達到(dao)(dao)的質(zhi)(zhi)量(liang)等(deng)級和(he)C類不(bu)合(he)格數(shu)達到(dao)(dao)的質(zhi)(zhi)量(liang)等(deng)級兩者(zhe)中取較低者(zhe)）。

    (五) 失效(xiao)判據(ju)

    1、可靠性增(zeng)長試驗(yan)
    ①在產(chan)品(pin)標準中應該對每個被(bei)測(ce)參(can)數規(gui)定可接(jie)收的(de)(de)性(xing)能范(fan)圍(wei)(wei)(wei)(wei)。若任一(yi)參(can)數超出這(zhe)種(zhong)(zhong)范(fan)圍(wei)(wei)(wei)(wei)時(shi)，應稱作一(yi)次失效。如果不只是(shi)一(yi)個參(can)數偏離了規(gui)定范(fan)圍(wei)(wei)(wei)(wei)，而且能證明(ming)不是(shi)同(tong)(tong)一(yi)原因使這(zhe)些(xie)參(can)數超出規(gui)定范(fan)圍(wei)(wei)(wei)(wei)時(shi)，每一(yi)種(zhong)(zhong)參(can)數的(de)(de)偏離都應算作產(chan)品(pin)的(de)(de)一(yi)次失效。如果參(can)數偏離規(gui)定范(fan)圍(wei)(wei)(wei)(wei)是(shi)同(tong)(tong)一(yi)原因造成(cheng)的(de)(de)，只記作產(chan)品(pin)的(de)(de)一(yi)次失效。
    ②由于元器件時好時壞(huai)，或(huo)因虛焊(han)、漏焊(han)、短(duan)路、開路、接觸不良(liang)等造成的(de)產品(pin)故障，均記入失(shi)效(xiao)數內。
    ③產品(pin)(pin)在一個(ge)有(you)限時間(jian)內停止(zhi)工作，接(jie)著又在沒有(you)任何外界激(ji)勵的(de)情況下恢復工作，這叫間(jian)歇失(shi)效(xiao)(xiao)，應記作受試產品(pin)(pin)的(de)一次失(shi)效(xiao)(xiao)。
    ④已經證實是未按規定的條件使用(yong)所(suo)引(yin)(yin)起的故障(zhang)(zhang)、僅屬某項將不采用(yong)的設計(ji)所(suo)引(yin)(yin)起的故障(zhang)(zhang)、以及外加(jia)應力超過(guo)規定值所(suo)引(yin)(yin)起的故障(zhang)(zhang)叫“非關聯(lian)故障(zhang)(zhang)”，否則叫“關聯(lian)故障(zhang)(zhang)”， “非關聯(lian)故障(zhang)(zhang)”不記入(ru)受試產品失(shi)效數內。但應記錄(lu)并采取(qu)措施以防止再度(du)發生。
    2、可靠性鑒定試(shi)驗
    同(tong)可靠性增(zeng)長試(shi)驗。
    3、可靠(kao)性驗(yan)收試驗(yan)
    對受試(shi)產品進(jin)行試(shi)驗和(he)檢查，根據(ju)每(mei)一項試(shi)驗的(de)(de)結果(guo)和(he)檢查結果(guo)確定是否(fou)有B類(lei)不合(he)(he)格或C類(lei)不合(he)(he)格，分別累計所有試(shi)驗和(he)檢查的(de)(de)B類(lei)不合(he)(he)格和(he)C類(lei)不合(he)(he)格即為受試(shi)產品的(de)(de)B類(lei)不合(he)(he)格數和(he)C類(lei)不合(he)(he)格數。