1、熱測(ce)試(shi)的目的和(he)內容
在電(dian)子產品(pin)散熱設計(ji)中(zhong)，熱測試(shi)是(shi)必不可(ke)少的一個(ge)環節。熱測試(shi)的目(mu)的主要有以下四點：
測試產(chan)品實際散熱表現(xian)是否能達(da)到要求；
檢(jian)驗產(chan)品散熱方案有無可改進、降成本之處(chu)；
測(ce)試各(ge)種方案的實(shi)際(ji)表現；
與設(she)計(ji)前期理論/仿真預估進(jin)行回歸總(zong)結，提高后(hou)續散熱設(she)計(ji)水平(ping)
熱測(ce)試(shi)(shi)需要關注(zhu)的并不只(zhi)是(shi)溫(wen)(wen)度，而是(shi)與溫(wen)(wen)度相關的所(suo)有因素。在測(ce)試(shi)(shi)中，為(wei)了保證測(ce)試(shi)(shi)系統設定正確，需要同時監控噪(zao)音(yin)、功(gong)耗和相關散熱手段的使(shi)用等(deng)。熱測(ce)試(shi)(shi)的內(nei)容包(bao)括如下6項：
2、溫度測試(shi)
溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度是(shi)熱(re)(re)測(ce)(ce)試(shi)中關鍵的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)參(can)數(shu)。依據測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)儀器是(shi)否接(jie)觸(chu)熱(re)(re)源，測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)方(fang)法可(ke)分為接(jie)觸(chu)式測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)和非接(jie)觸(chu)式測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)。其中，接(jie)觸(chu)式測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)在(zai)電子散熱(re)(re)領(ling)域大量(liang)應用。非接(jie)觸(chu)式測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)中的(de)(de)(de)紅外測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)可(ke)以獲(huo)得一個平面的(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度分布，應用也較為廣(guang)泛。示溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)材(cai)料是(shi)一種熱(re)(re)致(zhi)變色(se)(se)的(de)(de)(de)材(cai)料，溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度不同時，其表現(xian)的(de)(de)(de)顏色(se)(se)會發生變化(hua)。示溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)材(cai)料多用于重工業設(she)備。當前(qian)在(zai)電子散熱(re)(re)的(de)(de)(de)熱(re)(re)測(ce)(ce)試(shi)中，應用不多。
3.1 熱測試設備
熱(re)測(ce)試實驗室需(xu)要配置如下基本設(she)備，才能進行熱(re)測(ce)試。
1)恒溫恒濕試驗箱:提供可控的測試環境；
2)熱偶線(xian)、溫度補償線(xian)、數據采集器：接觸式測溫,讀取(qu)測點溫度；
3)膠水、高溫膠帶：固定測點(dian)；
4)功率(lv)計：用(yong)來測試記錄設備所耗功率(lv)，核對測試負載是否符合要(yao)求；

5)紅(hong)外成(cheng)像(xiang)儀：非接觸式，拍攝設備表面獲得溫度分布。

3.2接觸式測溫
電(dian)子產品(pin)中接(jie)觸式(shi)測溫(wen)(wen)(wen)儀器常(chang)用的(de)(de)(de)(de)是熱(re)電(dian)偶。熱(re)電(dian)偶的(de)(de)(de)(de)測溫(wen)(wen)(wen)基于塞(sai)貝克效(xiao)應，即當兩種(zhong)不同的(de)(de)(de)(de)金屬組成回路時，兩個節點(dian)間的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)差(cha)會導(dao)致回路中產生(sheng)電(dian)勢(shi)。這種(zhong)由(you)于溫(wen)(wen)(wen)差(cha)導(dao)致的(de)(de)(de)(de)電(dian)勢(shi)稱為(wei)熱(re)電(dian)勢(shi)。溫(wen)(wen)(wen)差(cha)與熱(re)電(dian)勢(shi)之間存在一一對應的(de)(de)(de)(de)函數關(guan)系。因此，可以通過測量兩點(dian)之間的(de)(de)(de)(de)電(dian)勢(shi)來(lai)換算結(jie)點(dian)間的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)差(cha)。
熱電偶測(ce)溫的優點是直觀、準確，精度一(yi)般(ban)約±0.5℃，
缺點如下：
1)感溫元件可(ke)能影(ying)響(xiang)被測溫度場的分布；
2)需要(yao)一定的反應時(shi)間；
3)對(dui)于(yu)內部接觸困難(nan)的點(dian)，測試難(nan)度較大；
4)無法(fa)獲得(de)整個面(mian)的(de)溫度分布。
使用熱(re)電(dian)偶進行測(ce)溫(wen)的(de)步驟如(ru)下：
1)根據散熱風(feng)險分析，確定測試點位(wei)置；
2)使用(yong)導熱膠(jiao)將熱電偶測(ce)溫(wen)端粘貼到測(ce)點(dian)(dian)上(shang)，另一(yi)端接到數(shu)據采集模塊中，如(ru)果(guo)是測(ce)試局部流(liu)體的溫(wen)度(du)（如(ru)進出(chu)風(feng)口溫(wen)度(du)），則需保證探點(dian)(dian)固定到待(dai)測(ce)位置(zhi)不晃動(dong)；
3)將采(cai)(cai)集(ji)模(mo)塊插裝至數據采(cai)(cai)集(ji)儀(yi)中；
4)數據采集儀根據使用的(de)(de)熱電偶的(de)(de)分度號設置(zhi)好，讀取測試(shi)結果。
說明：
1)熱(re)電偶(ou)需要使(shi)用(yong)(yong)導熱(re)性(xing)能(neng)好(hao)的(de)(de)粘接劑(ji)粘貼到測溫點(dian)(dian)上，可(ke)(ke)以(yi)使(shi)用(yong)(yong)樂泰(tai)384導熱(re)膠+7452催化(hua)劑(ji)，固化(hua)時(shi)(shi)間較(jiao)長（常(chang)溫下數(shu)小時(shi)(shi)才能(neng)進(jin)行下一(yi)(yi)步操(cao)作），但固化(hua)后比較(jiao)牢固，推薦在需要反復測試的(de)(de)場景中(zhong)采用(yong)(yong)；樂泰(tai)416膠水+7452促(cu)進(jin)劑(ji)，可(ke)(ke)在數(shu)秒(miao)中(zhong)內凝固，缺點(dian)(dian)是較(jiao)脆，高溫下可(ke)(ke)能(neng)崩裂(lie)，可(ke)(ke)以(yi)在時(shi)(shi)間緊迫的(de)(de)一(yi)(yi)次性(xing)測試中(zhong)使(shi)用(yong)(yong)。
2)熱電(dian)偶(ou)數據記錄(lu)儀可連接至電(dian)腦，從而實(shi)現溫度的自動監控和(he)記錄(lu)。
3)高(gao)溫(wen)膠帶用(yong)來固定熱偶線纜在設(she)(she)備(bei)內部的走(zou)線，以免設(she)(she)備(bei)移動過(guo)程(cheng)中及(ji)高(gao)溫(wen)測試過(guo)程(cheng)中的熱偶線脫(tuo)落(luo)及(ji)損(sun)壞。
3.3 非接觸式測溫
非接觸(chu)式測溫(wen)常(chang)用的儀(yi)器是(shi)熱成像(xiang)(xiang)儀(yi)和紅外點(dian)溫(wen)槍(qiang)。點(dian)溫(wen)槍(qiang)只能測得表(biao)面上特定點(dian)的溫(wen)度，常(chang)用于(yu)現(xian)場問題定位，正規熱測試驗證較少適用。熱成像(xiang)(xiang)儀(yi)在終端產(chan)品(pin)（如手機(ji)、機(ji)頂盒(he)、筆記本電腦等對設備表(biao)面溫(wen)度有嚴格要(yao)求的設備）中(zhong)經常(chang)使(shi)用。
3.3.1 非接(jie)觸測溫的優(you)缺點
非接觸(chu)式測溫(wen)的(de)優點：
1)具有較(jiao)高的測溫(wen)上限；
2)熱慣性小,可達千分之一秒，測溫(wen)立等可得，而且能夠(gou)測量運動物體的溫(wen)度和(he)快速變化(hua)的溫(wen)度；
3)熱成像(xiang)儀(yi)還可以獲得一整個面(mian)的(de)溫(wen)度分布，便于(yu)發(fa)現可能(neng)存在(zai)的(de)不被注意的(de)點。
非接觸(chu)式(shi)測(ce)溫(wen)的缺點：
1)非接觸(chu)(chu)式測(ce)溫精(jing)度較(jiao)差（約(yue)(yue)±2℃），不如接觸(chu)(chu)式測(ce)試（約(yue)(yue)±0.5℃）;
2)需要知道表面(mian)發射率(lv)，才(cai)能正(zheng)確測溫；
3)對于不(bu)裸露在外的表(biao)面，較難測量。
3.3.2 非(fei)接觸式測溫誤差的影響因素
要正(zheng)確(que)使用紅外攝(she)像儀，首先需要理解其(qi)精(jing)度影響因(yin)素，除了儀器(qi)本(ben)身的因(yin)素外，主要表現在以(yi)下幾個方面[1]：
3.3.2.1 物體表面輻射率
輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)是(shi)一(yi)個物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)相(xiang)對于(yu)黑體(ti)(ti)(ti)(ti)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)能力大小的(de)(de)(de)物(wu)理量(liang)，它(ta)除了與(yu)物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)(de)(de)材料(liao)形狀、表(biao)(biao)面(mian)粗糙(cao)度(du)(du)、凹凸度(du)(du)等(deng)有關，還與(yu)測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)方向有關。若物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)為(wei)光潔表(biao)(biao)面(mian)時，其(qi)(qi)方向性(xing)更為(wei)敏感。不同(tong)物(wu)質的(de)(de)(de)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)是(shi)不同(tong)的(de)(de)(de)，紅外測(ce)溫儀從物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)上(shang)接(jie)收(shou)到輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)能量(liang)大小正比于(yu)它(ta)的(de)(de)(de)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)。根據基爾霍(huo)夫定(ding)理：物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)半球(qiu)單(dan)色發射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(ε)等(deng)于(yu)它(ta)的(de)(de)(de)半球(qiu)單(dan)色吸(xi)收(shou)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(α)，ε=α。在熱平衡(heng)條件下(xia)，物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)功率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)等(deng)于(yu)它(ta)的(de)(de)(de)吸(xi)收(shou)功率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)，即(ji)(ji)吸(xi)收(shou)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(α)、反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(ρ)、透(tou)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(γ)總和(he)為(wei)1，即(ji)(ji)α+ρ+γ=1，圖14-7解釋(shi)了上(shang)述規(gui)律(lv)。對于(yu)不透(tou)明的(de)(de)(de)(或具(ju)有一(yi)定(ding)厚度(du)(du))的(de)(de)(de)物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)透(tou)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)可(ke)將(jiang)γ近似視為(wei)0，那么只有輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)和(he)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(α+ρ=1)。當物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)(de)(de)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)越(yue)高，反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)就(jiu)越(yue)小，背(bei)(bei)景和(he)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)影響就(jiu)會越(yue)小，測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)準(zhun)確(que)性(xing)也就(jiu)越(yue)高；反(fan)(fan)(fan)之，背(bei)(bei)景溫度(du)(du)越(yue)高或反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)越(yue)高，對測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)影響就(jiu)越(yue)大。如鏡(jing)(jing)面(mian)表(biao)(biao)面(mian)，其(qi)(qi)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)高，熱成(cheng)(cheng)像儀接(jie)收(shou)到的(de)(de)(de)能量(liang)可(ke)能不是(shi)其(qi)(qi)自身輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)能量(liang)，而是(shi)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)其(qi)(qi)它(ta)物(wu)體(ti)(ti)(ti)(ti)發出(chu)的(de)(de)(de)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)能，這(zhe)就(jiu)會造成(cheng)(cheng)測(ce)試(shi)結(jie)果失真。在實際的(de)(de)(de)檢測(ce)過程(cheng)中，必須盡可(ke)能將(jiang)測(ce)溫儀中設定(ding)的(de)(de)(de)輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)與(yu)被測(ce)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)實際輻(fu)(fu)(fu)(fu)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)設置(zhi)為(wei)相(xiang)同(tong)，以(yi)減小所(suo)測(ce)溫度(du)(du)的(de)(de)(de)誤差。當被測(ce)表(biao)(biao)面(mian)為(wei)鏡(jing)(jing)面(mian)時（反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)較大），可(ke)以(yi)使用一(yi)些(xie)涂料(liao)將(jiang)其(qi)(qi)涂黑，降低(di)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)率(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)(lv)。
3.3.2.2 測試角度
輻射率與(yu)測(ce)試(shi)(shi)方(fang)向(xiang)有關，測(ce)試(shi)(shi)角度（被(bei)測(ce)表(biao)面法(fa)線方(fang)向(xiang)與(yu)測(ce)試(shi)(shi)儀正(zheng)對(dui)(dui)方(fang)向(xiang)的(de)夾角）越大(da)，測(ce)試(shi)(shi)誤差越大(da)，在(zai)用紅外進(jin)行(xing)測(ce)溫時(shi)(shi)，好正(zheng)對(dui)(dui)設備(bei)表(biao)面進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)(shi)。不得不傾斜測(ce)試(shi)(shi)來(lai)對(dui)(dui)比兩個相(xiang)同(tong)物(wu)體的(de)測(ce)溫數據(ju)時(shi)(shi)，建議在(zai)測(ce)試(shi)(shi)時(shi)(shi)測(ce)試(shi)(shi)角一定(ding)要相(xiang)同(tong)。
3.3.2.3 距離(li)系數
距(ju)(ju)離(li)(li)系(xi)數(K=S:D)是測(ce)(ce)溫儀到目標的距(ju)(ju)離(li)(li)S與測(ce)(ce)溫目標直(zhi)徑(jing)D的比值，K值越大(da)，分辨(bian)率越高(gao)。比如，用測(ce)(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li)與目標直(zhi)徑(jing)S:D=8:1 的測(ce)(ce)溫儀，測(ce)(ce)量(liang)距(ju)(ju)離(li)(li)應滿足表14-1的要(yao)求。
3.3.2.4 大氣(qi)吸收
大氣(qi)吸收(shou)是(shi)指在(zai)(zai)傳(chuan)輸過程中使(shi)一部分紅外線輻射(she)能量(liang)變成其它形式的(de)(de)能量(liang)，或以(yi)另一種光譜分布。大氣(qi)吸收(shou)程度隨空氣(qi)溫(wen)溫(wen)變化而變化，被測物體距離越(yue)遠，大氣(qi)透射(she)對溫(wen)度測量(liang)的(de)(de)影響(xiang)就越(yue)大。所以(yi)，在(zai)(zai)室(shi)(shi)外進行紅外測溫(wen)時，應盡量(liang)在(zai)(zai)無(wu)雨、無(wu)霧(wu)、空氣(qi)比較清晰的(de)(de)環(huan)境(jing)下(xia)進行。在(zai)(zai)室(shi)(shi)內進行紅外測溫(wen)時，應在(zai)(zai)沒(mei)有水蒸氣(qi)的(de)(de)環(huan)境(jing)下(xia)進行，這樣就可以(yi)在(zai)(zai)誤(wu)差小的(de)(de)情況下(xia)測得較準確(que)的(de)(de)數值(zhi)。
3.3.3 非接觸式測溫工程處理方(fang)法
對(dui)于室內環境中普(pu)通表面(mian)的(de)溫(wen)度測試，發(fa)射(she)率是(shi)影(ying)響紅外溫(wen)度檢(jian)測精度的(de)重要參數(shu)之一，因各目標表面(mian)性質不盡相同，故發(fa)射(she)率會有很大差(cha)別；若不能準確(que)設置發(fa)射(she)率，則會造成測量(liang)誤差(cha)，本節講述如何修(xiu)正發(fa)射(she)率，滿足(zu)客戶(hu)測量(liang)的(de)需求。
發射率的(de)概念(nian)在熱設計(ji)基礎理論的(de)熱輻射一節(jie)有簡單(dan)介紹(shao)。其影響因素如(ru)下：
材(cai)料(liao) 不(bu)同(tong)(tong)材(cai)料(liao)的發射率(lv)不(bu)同(tong)(tong)，如銅(tong)的發射率(lv)一(yi)般來說比(bi)鋁(lv)高。
表(biao)(biao)面光潔度 通常表(biao)(biao)面粗糙的材(cai)料發射率比光潔表(biao)(biao)面高(gao)。
表(biao)面顏色(se) 以黑色(se)為代(dai)表(biao)的深色(se)系(xi)表(biao)面發射率比淺色(se)系(xi)高。
表(biao)面(mian)形狀(zhuang) 表(biao)面(mian)有(you)凹(ao)陷、夾角(jiao)或不(bu)平整規則的(de)(de)部(bu)位(wei)(wei)比平整的(de)(de)部(bu)位(wei)(wei)發(fa)射率高(gao)， 如(ru)通常我們在檢(jian)測模具加熱時會發(fa)現溫度有(you)偏高(gao)的(de)(de)部(bu)位(wei)(wei)，但實際(ji)上該模具溫度是均(jun)勻(yun)的(de)(de)，偏高(gao)的(de)(de)位(wei)(wei)置往(wang)往(wang)是表(biao)面(mian)不(bu)規則的(de)(de)部(bu)分。
大多數非金(jin)屬(shu)材料（如(ru)塑料、油漆、皮革、紙張等(deng)）發(fa)射率(lv)可(ke)設置為 0.95，相同材質、不同顏色的目標其發(fa)射率(lv)非常接(jie)近，誤差通常不超過(guo)測(ce)量精(jing)度范圍(wei)；部分(fen)表面光亮的非金(jin)屬(shu)材料發(fa)射率(lv)較低(di)（如(ru)瓷磚、玻璃等(deng)）。
當不知道測試表面的(de)(de)發射率時，通常采用如(ru)下方法來處(chu)理，保證測試結果的(de)(de)準(zhun)確性[2]：
3.3.3.1 絕(jue)緣膠帶法
將一塊絕(jue)緣膠(jiao)帶（已知(zhi)發(fa)射(she)率(lv)）貼于(yu)被(bei)測(ce)(ce)物體(ti)表(biao)(biao)面，通過(guo)調(diao)整紅外(wai)熱像儀(yi)發(fa)射(she)率(lv)，使(shi)被(bei)測(ce)(ce)材料表(biao)(biao)面的(de)溫度與(yu)貼有絕(jue)緣膠(jiao)帶表(biao)(biao)面溫度相同或接(jie)近，此時的(de)發(fa)射(she)率(lv)即為被(bei)測(ce)(ce)材料物體(ti)正確(que)的(de)發(fa)射(she)率(lv)。
操作方法 
貼絕緣膠布(bu)（建議使用(yong) 3M 電氣絕緣膠帶，牌號 1712，黑(hei)色），發(fa)射率(lv)：0.93
適用場合 
此種方法適用于被測目標(biao)(biao)相對比較(jiao)大，溫度(du)較(jiao)低（小于 80℃），要求(qiu)測試(shi)后不(bu)改變原目標(biao)(biao)表(biao)面(mian)狀況(kuang)的(de)場(chang)合，例(li)如各種散熱(re)模塊，光潔芯片（較(jiao)大）表(biao)面(mian)，金屬表(biao)面(mian)等。
注意事項
應(ying)盡量使膠帶與被測目標(biao)的表(biao)面接觸緊密，沒有氣泡或褶(zhe)皺等現象，需要預(yu)留 5分鐘(zhong)以上時(shi)間，使被測目標(biao)表(biao)面與膠帶充(chong)分達(da)到熱平(ping)衡狀態。
3.3.3.3 涂抹法
用水(shui)性白板(ban)筆（已知發(fa)(fa)射(she)率(lv)）均勻的涂抹在被測物(wu)體表(biao)面(mian)，然后通過調整紅(hong)外熱像儀發(fa)(fa)射(she)率(lv)，直到沒(mei)有涂抹的表(biao)面(mian)溫度(du)與涂抹表(biao)面(mian)溫度(du)相(xiang)同或接近，此時的發(fa)(fa)射(she)率(lv)即為目標物(wu)體正確的發(fa)(fa)射(she)率(lv)。
操作方法 
涂(tu)抹(mo)水性白(bai)板筆（建(jian)議(yi)使(shi)用晨光水性白(bai)板筆，牌號 MG - 2160 ，黑色(se)），發射率：0.95。
適用場合
此方法可以(yi)適(shi)用于不允許改(gai)變物(wu)體(ti)表面狀態（涂抹后可擦(ca)去），同時 形(xing)狀不適(shi)合進行(xing)膠帶粘貼的目(mu)標，涂抹法可針對較小的目(mu)標進行(xing)，但目(mu)標表面溫(wen)度不宜(yi)超過 100℃。
注(zhu)意事項
白(bai)板筆(bi)不能(neng)是油性筆(bi)，否則干后很難擦去(qu)。
應盡量使涂抹(mo)面均勻，建議使用(yong)者(zhe)涂抹(mo) 3 分(fen)鐘后，待目標(biao)表(biao)面熱平衡后再(zai)進(jin)行測(ce)試(shi)。
3.3.3.4 接觸溫度計法
用接觸(chu)(chu)式(shi)溫度(du)計，如(ru)熱(re)電偶、熱(re)電阻等直接測量物體表面溫度(du)，然后通過(guo)調整紅外熱(re)像儀發射(she)率(lv)，直到(dao)熱(re)像儀所(suo)測得(de)的(de)表面溫度(du)與接觸(chu)(chu)式(shi)接觸(chu)(chu)式(shi)溫度(du)計測得(de)的(de)表面溫度(du)相同或接近，此時的(de)發射(she)率(lv)即為目(mu)標物體正確的(de)發射(she)率(lv)。
操作方(fang)法 
使用接(jie)觸式測(ce)溫儀器(qi)。
適用(yong)場合 
測量方(fang)便(bian)，但需(xu)注(zhu)意(yi)現場是(shi)否允許(xu)進行表面接觸測溫（特別是(shi)帶電(dian)、運動等現場）。
注意事項(xiang) 
應(ying)使熱電偶(ou)與被(bei)測目標(biao)表面接觸(chu)良(liang)好，并要求測試的數據必(bi)須是溫度穩定后的數據。