1.目的：驗證產品在高低溫(wen)環境下各項性(xing)能指標符合客戶(hu)或(huo)出廠(chang)檢驗要求。
    2.范圍：天線產(chan)品。
    3.職責：

    3.1新產品開發時(shi)根(gen)據客戶或設計工程(cheng)師對產品耐受(shou)(shou)高(gao)低(di)溫(wen)的要(yao)求(qiu)，項(xiang)目小組成員需根(gen)據要(yao)求(qiu)做(zuo)相(xiang)應的高(gao)低(di)溫(wen)耐受(shou)(shou)測(ce)試試驗(yan)(yan)標準和試驗(yan)(yan)，并(bing)符合(he)(he)要(yao)求(qiu)，試驗(yan)(yan)時(shi)任何不(bu)符合(he)(he)的，需尋找根(gen)本原因(yin)，并(bing)采取(qu)糾正(zheng)措(cuo)施，直至(zhi)試驗(yan)(yan)合(he)(he)格。

    3.2產品批量(liang)生產后(hou)，質(zhi)量(liang)部需定(ding)期對(dui)產品高(gao)低溫耐受能力進行(xing)驗證(zheng)。
    4.程序：
    4.1抽樣(yang)樣(yang)品數量由設(she)計團(tuan)隊定義，并通過參加(jia)新產品開發負責(ze)質量管理的工(gong)程(cheng)師確認，一般已10件為宜.
    4.2試(shi)驗計劃見（附件），通(tong)常(chang)用于樣(yang)(yang)品(pin)試(shi)驗階段，并保存(cun)試(shi)驗報告和樣(yang)(yang)品(pin)，可供查詢及追(zhui)溯(su)。
    4.3批(pi)量生產產品高低溫耐(nai)受能力檢驗頻次及數量見(jian)作業指導書(shu)上規定。
    5. 低溫耐(nai)受測試標準：
    5.1試(shi)驗(yan)條件：溫度：-30℃±5℃ 時間：160h，
    5.2 試驗步驟：
    5.2.1 將處于室溫(wen)(wen)(wen)下的試(shi)驗樣品，在不通電的狀態下按正常位置放入高低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗箱(xiang)內，此時高低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗箱(xiang)的溫(wen)(wen)(wen)度也為室溫(wen)(wen)(wen)。
    5.2.2 對高低溫(wen)(wen)(wen)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱進(jin)行降溫(wen)(wen)(wen)，試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱內(nei)溫(wen)(wen)(wen)度(du)以不大于5℃/min的速率下降到試(shi)驗(yan)(yan)(yan)  溫(wen)(wen)(wen)度(du)，并(bing)且等待(dai)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)樣品達(da)到穩定(ding)(ding)(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)（所謂(wei)穩定(ding)(ding)(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)是(shi)指試(shi)驗(yan)(yan)(yan)樣品的溫(wen)(wen)(wen)度(du)與其后溫(wen)(wen)(wen)度(du)  之差在3℃）。試(shi)驗(yan)(yan)(yan)樣品在達(da)到穩定(ding)(ding)(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)后在規定(ding)(ding)(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)下持續儲存160小時。
    5.2.3 在(zai)存儲(chu)時間結(jie)束(shu)后，應在(zai)升溫前(qian)停止通電。等(deng)待溫度恢復(fu)到常溫后取出試(shi)驗樣(yang)品(pin)進行性(xing)能測(ce)試(shi)。
    5.2.4 性能(neng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)：試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)(yang)品對(dui)比母片測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)頻(pin)率(lv)及(ji)(ji)阻抗匹(pi)配符合要求（具體見作業指(zhi)導書）；  裝入整機內使(shi)用網絡分析儀測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)頻(pin)率(lv)及(ji)(ji)阻抗匹(pi)配（頻(pin)率(lv)1575M，50Ω阻抗匹(pi)配）；無源測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)實收衛星(xing)（測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)一片樣(yang)(yang)品即可）。
    6. 高溫耐受測試標(biao)準：
    6.1 試驗條件：溫度：85℃±5℃、時間：160h。
    6.2 試(shi)驗步(bu)驟：
    6.2.1 將處于室溫下(xia)的試驗(yan)(yan)樣(yang)品，在不通電的狀態下(xia)按正常位置放入(ru)高(gao)低溫試驗(yan)(yan)箱內，此時高(gao)低溫試驗(yan)(yan)箱的溫度也(ye)為(wei)室溫。
    6.2.2 對高(gao)低溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱進行(xing)降溫(wen)(wen)(wen)，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱內溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)以不大(da)于5℃/min的速率上升到(dao)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)，并且等待試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品達到(dao)穩定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)（所謂穩定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)是指(zhi)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品的溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)與其后(hou)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)之差在3℃）。試(shi)(shi)(shi)驗(yan)樣品在達到(dao)穩定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)后(hou)在規定(ding)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)下(xia)持續儲存(cun)160小時。
    6.2.3 在存(cun)儲時間結束后(hou)，應在降(jiang)溫(wen)前停止通(tong)電。等待溫(wen)度恢復到常溫(wen)后(hou)取出試驗樣品進行性能測試。
    6.2.4 性(xing)能測(ce)(ce)試(shi)：試(shi)驗樣(yang)品對(dui)比母片(pian)測(ce)(ce)試(shi)頻率及阻(zu)抗匹(pi)配符合要求（具體見作業指導書）；裝入(ru)整機內(nei)使用網絡分析儀測(ce)(ce)試(shi)頻率及阻(zu)抗匹(pi)配（頻率1575M，50Ω阻(zu)抗匹(pi)配）；無源(yuan)測(ce)(ce)試(shi)實(shi)收衛星（測(ce)(ce)試(shi)一片(pian)樣(yang)品即可）。
    7. 高(gao)低溫循環耐受測試標準：
    7.1 試驗條(tiao)件：高(gao)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)：85℃±5℃、低溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)：-30℃±5℃。
    7.2 試(shi)驗步驟：
    7.2.1 將處于室溫(wen)(wen)下的試驗(yan)(yan)樣品，在不(bu)通(tong)電(dian)的狀態下按(an)正常位(wei)置放入(ru)高低(di)溫(wen)(wen)試驗(yan)(yan)箱(xiang)內，此(ci)時試驗(yan)(yan)箱(xiang)的溫(wen)(wen)度也(ye)為(wei)室溫(wen)(wen)。
    7.2.2 對高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱進行升溫(wen)，試(shi)驗箱內溫(wen)度(du)(du)以不大于5℃/min的速率上升到(dao)試(shi)驗溫(wen)度(du)(du)，并且(qie)等待試(shi)驗樣品達到(dao)穩定溫(wen)度(du)(du)（所謂穩定溫(wen)度(du)(du)是指試(shi)驗樣品的溫(wen)度(du)(du)與其后(hou)溫(wen)度(du)(du)之差(cha)在3℃），保溫(wen)1h。
    7.2.3 對(dui)高(gao)低溫(wen)(wen)(wen)試驗(yan)箱(xiang)進行降溫(wen)(wen)(wen)，試驗(yan)箱(xiang)內(nei)溫(wen)(wen)(wen)度以不大于5℃/min的速(su)率(lv)上升到(dao)試驗(yan) 溫(wen)(wen)(wen)度，并且等待試驗(yan)樣(yang)品達到(dao)穩(wen)定溫(wen)(wen)(wen)度（所(suo)謂穩(wen)定溫(wen)(wen)(wen)度是指(zhi)試驗(yan)樣(yang)品的溫(wen)(wen)(wen)度與(yu)其后溫(wen)(wen)(wen)度之差(cha)在(zai)3℃），保溫(wen)(wen)(wen)1h
    7.2.4 按上述高低溫循環步驟進行5次(ci)交(jiao)替
    7.2.5 高低(di)溫(wen)循環結束后，應在降溫(wen)前停止(zhi)通電。等待(dai)溫(wen)度恢(hui)復到(dao)常溫(wen)后取出試驗樣品進(jin)行性(xing)能測試。
    7.2.6 性能測(ce)試(shi)：試(shi)驗樣品對比母片(pian)測(ce)試(shi)頻(pin)率及阻(zu)抗匹配符合要求（具體見作業(ye)指(zhi)導書）；裝入(ru)整(zheng)機內使用網絡分(fen)析儀測(ce)試(shi)頻(pin)率及阻(zu)抗匹配（頻率1575M，50Ω阻抗(kang)匹配）；無源(yuan)測試實(shi)收衛星(xing)（測試一(yi)片樣(yang)品即可）
    8.記錄：
    8.1所有新產品項目(mu)(mu)開發時的試(shi)驗計(ji)劃及(ji)測試(shi)結果，必須由項目(mu)(mu)組長和項目(mu)(mu)組成員簽字確認(ren)，并保存(cun)在項目(mu)(mu)文(wen)件夾(jia)中。
    8.2批量(liang)生產后(hou)的測試記錄由質量(liang)部保存。
    9注(zhu)解：
    9.1這項標(biao)準和規定，批量(liang)(liang)生(sheng)產時質量(liang)(liang)和生(sheng)產部經理需理解和按(an)要求執行本(ben)標(biao)準。