1、范圍
    本標準規定(ding)了電子器部件及產品(pin)老化試驗方法。

    本標準適用于(yu)電(dian)子器部件及產品的老化試驗(yan)。

    2、規范性(xing)引用文件
    下列(lie)文(wen)件中的(de)條款通過本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)的(de)引用而成為本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)的(de)條款。凡(fan)是(shi)注(zhu)日期的(de)引用文(wen)件，其(qi)隨后所(suo)有(you)的(de)修改單（不包括(kuo)勘誤的(de)內容）或修訂版均不適(shi)用于本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)，然而，鼓勵根據本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)達成協(xie)議的(de)各(ge)方研究(jiu)是(shi)否可使用這些文(wen)件的(de)新(xin)版本(ben)。凡(fan)是(shi)不注(zhu)日期的(de)引用文(wen)件，其(qi)新(xin)版本(ben)適(shi)用于本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)。
    GB/T 2423. 1-2008 電工電子產品環境(jing)試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
    GB/T 2423. 2 -2008電工 電子(zi)產品(pin)環境試(shi)驗第2部分:試(shi)驗方(fang)法 試(shi)驗B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
    GB/T2423. 4-2008電工 電子產品環(huan)境試(shi)驗(yan)(yan)第2部分:試(shi)驗(yan)(yan)方法 試(shi)驗(yan)(yan)Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huan)）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
    GB/T2423.10 電工(gong)電子產品環境試(shi)驗第2部(bu)分:試(shi)驗方法 試(shi)驗Fc和導則:振動（正弦） （IEC 60068-2-6， IDT）
    GB/T2423.11電(dian)工 電(dian)子(zi)產(chan)品環(huan)境試(shi)驗(yan)第2部分(fen):試(shi)驗(yan)方法 試(shi)驗(yan)Fd:寬頻帶隨機振(zhen)動一般(ban)要(yao)求（IEC 68-2-34，IDT）
    3 3試驗(yan)方法
    3.1 將處(chu)于室溫(wen)的試品(pin)（各(ge)類電子器部件及(ji)產品(pin)），在不加包裝、不通電、“準備使用”狀(zhuang)態下， 按其(qi)正常(chang)位置(zhi)放(fang)入已調到規定試驗溫(wen)度的高低溫(wen)老化試驗箱內。
    3.2使高低溫老化試驗箱溫度調整到規定的試驗溫度下，并使試品溫度達到穩定。
    3.3試品(pin)應均勻擺放在高低溫老化試驗(yan)箱內，試驗(yan)持(chi)續時間應從(cong)溫度達到穩(wen)定時算(suan)起。
    3.4 各(ge)類電子(zi)器部件在組裝(zhuang)前應做老化試驗。
    3.5老化試驗結(jie)束(shu)后(hou)(hou)的試品應放在恢(hui)復的標準(zhun)(zhun)大氣條件 下保持1h以(yi)上。然后(hou)(hou)，按有關(guan)標準(zhun)(zhun)規定進行外觀檢(jian)查及(ji)有關(guan)電氣、機械性(xing)能(neng)的檢(jian)測。

    3.6 各類(lei)器(qi)部(bu)件及產品的(de)試驗(yan)項目按表1規定進行。

    3.7除上述試驗項(xiang)目外，各公司可根據產品性(xing)能(neng)和(he)有(you)關標準增加老化試驗項(xiang)目。