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技術(shu)文章(zhang)
通信系統集成模塊高溫老化操作規范
來(lai)源: bibil.cn 時間:2021-03-19
    1、范(fan)圍
    本規(gui)范規(gui)定了公(gong)司產品、半成品、及(ji)主(zhu)要(yao)功(gong)能模塊的(de)高溫老化過(guo)程及(ji)操作規(gui)則(ze)。
    本規范適(shi)用于公司需進(jin)行高溫老化的產(chan)品。
    2、高溫老(lao)化篩選目的

    為(wei)提(ti)高(gao)產品可靠度(du),消除(chu)加工(gong)應力和殘余溶劑等物(wu)質,模擬(ni)嚴酷工(gong)作環境(jing),以鑒別和剔除(chu)產品工(gong)藝和元(yuan)件引起的(de)早期故障,確保整機優秀品質和期望壽(shou)命,進(jin)入高(gao)可靠的(de)穩定期。

集成模塊,高溫老化,高低溫老化試驗箱

    3、基(ji)本要求
    3.1老化篩選對象
    3.1.1進(jin)行(xing)老化試驗的(de)產品(pin)應是裝配調測合格品(pin);
    3.1.2公(gong)司產品(pin)、半成品(pin)、及主要功(gong)能模塊。
    3.2模(mo)擬狀態(tai)要求
    3.2.1為保證(zheng)產(chan)品(pin)的性能(neng)穩定可靠(kao),老化時應模擬(ni)產(chan)品(pin)工作狀(zhuang)態;
    3.2.2當老化的產品(pin)需輸入信號時(shi),應在額定(ding)輸出功率(lv)狀態下進(jin)行,同時(shi)做好散熱(re)措施。
    3.2.3對于射頻設備應:
    a)設備的(de)信(xin)號線(xian)和(he)負載線(xian)的(de)接入、接出(chu)應(ying)按照基本操作要求進行(xing),并模擬設備的(de)實際工(gong)作狀態(tai);
    b)設(she)備輸出端應與阻抗匹配的負載相連(lian),負載的額定(ding)功率應不小(xiao)于整機額定(ding)輸出功率2倍~3倍;
    c)在信號源和設備之間,應加(jia)上(shang)隔離器或環形器;
    d)嚴禁將大功(gong)率功(gong)放的輸(shu)出信(xin)號通過(guo)合(he)路器合(he)路再(zai)進入負載(zai)的連接方式。
    4、老化前(qian)的準(zhun)備及(ji)注意(yi)事項(xiang)
    a)老化前應(ying)確認高(gao)溫老化試驗室是否完好;
    b)當多(duo)臺老(lao)化產(chan)品一起進行試驗時(shi),各(ge)老(lao)化產(chan)晶之間應有足夠的(de)(de)間隙,以使溫(wen)度有足夠的(de)(de)均勻性。
    不應將老(lao)化產(chan)品堆積(ji)或擺放無序,以免影響老(lao)化效(xiao)果(guo)和對產(chan)品造成損壞(huai)。
    5、老化(hua)溫(wen)度(du)和時(shi)間
    老(lao)化溫(wen)度、時間如下所示可任選一種:
    a)室溫條(tiao)件下(xia)通電連續(xu)老化(hua)不得(de)少(shao)于96h;
    b)40℃±2℃條件下通電連續(xu)老化(hua)不(bu)得少于72h;
    c)45℃±2℃條件下通(tong)電連(lian)續(xu)老化(hua)不得少(shao)于48h;
    d)50℃±2℃條件下通電連續(xu)老化不(bu)得少于24h;
    e)55℃±2℃條件下通電連續老化不(bu)得少于12h.
    6、老化(hua)程(cheng)序
    6.1對(dui)老化(hua)產品施加產品標準(zhun)中規定的工(gong)作電壓(ya)。
    6.2在(zai)老化(hua)產(chan)品(pin)通電的狀態下將(jiang)高(gao)溫(wen)(wen)老化(hua)試驗(yan)室(shi)的溫(wen)(wen)度加熱至規(gui)定的試驗(yan)溫(wen)(wen)度,老化(hua)過程中(zhong)的環境溫(wen)(wen)度變化(hua)應在(zai)規(gui)定溫(wen)(wen)度的±2℃范圍內。
    6.3老化溫(wen)(wen)度達到規定值,恒溫(wen)(wen)后開始(shi)計時。
    6.4老(lao)(lao)(lao)化(hua)過程(cheng)中應每隔(ge)2h查(cha)看老(lao)(lao)(lao)化(hua)室的運行是否穩定,特別(bie)是測量溫度。老(lao)(lao)(lao)化(hua)過程(cheng)中發現溫度異常時,應立即切斷電源(yuan)。待老(lao)(lao)(lao)化(hua)室恢(hui)復正常后再繼續進(jin)行老(lao)(lao)(lao)化(hua)。
    6.5老化產品在老化過程中(zhong)應定時(shi)進行(xing)主(zhu)要性能指標檢測,具(ju)體指標種類及參(can)數(shu)在轉產文件的技(ji)術說明中(zhong)規(gui)定。
    a)常規產(chan)品老化,每5h~6h測試一次,并記錄(lu)測試時的溫度;
    b)常規產品(pin)老化,采(cai)用抽測方(fang)式,每次測試的產品(pin)應不(bu)少于10%;
    c)遇到所(suo)測型號設備存在問題(ti)時(shi),應(ying)根據實際情況,增(zeng)加(jia)該類產(chan)品(pin)的檢測數量,并不(bu)少于(yu)10%。
    6.6老化過程中(zhong)(zhong)產品出現故障時,應在附錄(lu)(lu)A的備(bei)注欄中(zhong)(zhong)詳細(xi)記錄(lu)(lu)故障情況。
    6.7老化后(hou)的產品在(zai)室溫下至少放置2h后(hou),由生產計劃(hua)部進行復測(ce),并做好測(ce)試記錄,合格(ge)后(hou)提(ti)交檢(jian)(jian)驗(yan)(yan)部門檢(jian)(jian)驗(yan)(yan)。
    6.8單盤的測(ce)(ce)試(shi)在(zai)老(lao)化(hua)后(hou)進行,測(ce)(ce)試(shi)項目包括監控(kong)功能、輸出(chu)電(dian)壓(ya)值等(deng)。抽(chou)測(ce)(ce)數(shu)量應(ying)不(bu)少于20%,如老(lao)化(hua)后(hou)有(you)不(bu)合格的試(shi)驗樣品,該(gai)批次需全(quan)部測(ce)(ce)試(shi)。
    注:本規范中的(de)(de)單盤指直接提供給用戶的(de)(de)單盤或(huo)模塊(kuai)。
    7、標識
    a)老化測試合格(ge)的產(chan)(chan)品,應(ying)在產(chan)(chan)品易觀查的表面用綠色標(biao)簽做標(biao)識:
    b)老化測試(shi)不合(he)格(ge)的產品(pin),應(ying)在產品(pin)易觀查的表面用紅色標簽做標識。
    8、測試記錄
    8.1根據測試的項目填寫(xie)老化(hua)測試記(ji)錄(lu)(lu),見附(fu)錄(lu)(lu)A。
    8.2單盤(pan)老化測試記(ji)錄(lu)見(jian)附(fu)錄(lu)B.
    8.3老化測試記錄表應每月由(you)指(zhi)定(ding)人員歸檔。
    9、老化設(she)備維護(hu)要求
    9.1老化(hua)試(shi)驗(yan)的(de)所有測試(shi)器(qi)件應定期進行測試(shi)檢驗(yan),
    9.2所有老化(hua)設施的(de)檢(jian)測(ce)應每月進行一次(ci),主要檢(jian)測(ce)項目(mu)為:
    ——老化設備溫控系(xi)統(tong)的校應;
    ——老化(hua)負載的駐波比測試(shi);
    ——信(xin)號源的(de)(de)輸出信(xin)號準(zhun)確度的(de)(de)測(ce)試:
    ——電源的輸出電壓(ya)測試(shi)。

    9.3測試結果應(ying)記(ji)錄,格式按(an)附錄C。

A

B

C

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