高低(di)溫(濕熱(re))試驗箱是模擬產(chan)品在(zai)氣候環(huan)境(jing)溫濕組合條(tiao)件(jian)下(xia)(高低(di)溫操(cao)作與儲存、溫度循環(huan)、高溫高濕、低(di)溫低(di)濕、結(jie)(jie)露試驗...等(deng)),檢測產(chan)品本身的適應能(neng)(neng)力(li)與特(te)(te)性是否改變的試驗設備。一般用于材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)可(ke)能(neng)(neng)發生軟化(hua)(hua)、效能(neng)(neng)降低(di)、特(te)(te)性改變、潛在(zai)破壞、氧化(hua)(hua)等(deng)現象(xiang)(xiang)。例(li)如(ru):填充物和(he)密(mi)封條(tiao)軟化(hua)(hua)或融化(hua)(hua)、電(dian)子電(dian)路(lu)穩(wen)定性下(xia)降,絕緣(yuan)損壞、加速高分子材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)和(he)絕緣(yuan)材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)老化(hua)(hua)。在(zai)低(di)溫時(shi)產(chan)品所使用零件(jian)、材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)可(ke)能(neng)(neng)發生龜裂、脆(cui)化(hua)(hua)、可(ke)動部卡(ka)死(si)、特(te)(te)性改變等(deng)現象(xiang)(xiang)。例(li)如(ru):材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)發硬變脆(cui)、電(dian)子元器件(jian)性能(neng)(neng)發生變化(hua)(hua)、水冷凝結(jie)(jie)冰、材(cai)(cai)(cai)料(liao)(liao)收(shou)縮造(zao)成機械結(jie)(jie)構變化(hua)(hua)。
滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1);
GB/T2423.2(IEC60068-2-2);
ISO16750;GB/T14710;
GB/T13543;
JESD22等系列標準中的(de)溫(wen)度試驗。
全自動配合待測品負載量控制壓縮機冷媒流量達到省電目的
有效的低濕度控制范圍40℃/10%RH效能
同業數(shu)量(liang)多機臺(tai)安全(quan)保護(hu)偵(zhen)測點
斜率段與恒溫段同步溫濕度設定
完整(zheng)即時試驗曲線分析顯示,無(wu)時間限制
試驗結束待測品回常溫保護機制
機臺蓄水桶預知(zhi)缺水警告
溫濕度試驗設備的標志性產品。適用標準:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 (12h+12h循環)
GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環試驗
GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環境試驗
第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
濕(shi)熱試驗標準介紹(shao)-GB/T 2423.4-2008
濕熱試驗(yan)(yan)標(biao)準介紹(shao)-GB/T 2423.3-2016環境試驗(yan)(yan)
信息技術(shu)設(she)備 室外安裝設(she)備安全(quan)試驗GB/T4943.22
GB/T 2424.1-2005 電工電子產品基(ji)本(ben)環境試(shi)驗 高(gao)溫低溫試(shi)驗導則
瑞凱儀(yi)器龍(long)年(nian)開工(gong)大吉,揚帆(fan)起航新征程
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講解(jie)恒(heng)溫恒(heng)濕實驗箱系統的控制原理