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瑞凱_高低溫試驗箱_恒溫恒濕試驗箱_冷熱沖擊試驗箱
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HAST試驗箱
  • HAST非飽和高壓加速老化試驗機
HAST非飽和高壓加速老化試驗機

本設備廣泛(fan)用于IC半導體、連接器、線路(lu)板、磁性材(cai)料(liao)、高分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)、EVA、光伏組(zu)件(jian)等行業相(xiang)關之產品作加速老化壽命(ming)試驗。

滿足(zu)試(shi)驗(yan)標準：

GB-T 2423.40-1997 、IEC 60068-2-66-1994 、JESD22-A100 、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

產品 · 詳情product details

瑞凱高壓加速老化試驗機HAST

設備用途Equipment use

HAST非飽和高(gao)(gao)(gao)壓加(jia)速(su)老化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)機是在非飽和濕度(du)（65%～100%RH可調(diao)）、溫(wen)度(du)、壓力(li)等條件(jian)下，檢測產(chan)品(pin)(pin)或材(cai)料可靠(kao)性耐(nai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)高(gao)(gao)(gao)濕能力(li)的(de)(de)儀器(qi)設備，采(cai)用加(jia)速(su)應力(li)進行試(shi)(shi)(shi)件(jian)的(de)(de)壽命試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)，從而縮短了(le)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)時間(jian)，提(ti)高(gao)(gao)(gao)了(le)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)效率，降(jiang)低了(le)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)成本，其研(yan)究使(shi)高(gao)(gao)(gao)可靠(kao)長壽命產(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)可靠(kao)性評(ping)定(ding)成為可能。本設備廣泛用于IC半導體、連接(jie)器(qi)、線路板、磁性材(cai)料、高(gao)(gao)(gao)分子材(cai)料、EVA、光伏組件(jian)等行業(ye)相關之產(chan)品(pin)(pin)作加(jia)速(su)老化(hua)壽命試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)。


準時交貨準時交貨率高達99%

產品 · 特(te)點Product features

  • 設計標準設計更安全

     內膽(dan)采用圓弧設計(ji)防止結(jie)露滴水，符合國家安全容器(qi)規范；

  • 安全多重保護功能

    三道高溫保護裝置、濕(shi)度用水斷水保護與電(dian)熱(re)斷水空(kong)焚保護、機臺停機時自(zi)動排(pai)除飽(bao)和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等(deng)

  • 穩定穩定性更高

    壓(ya)力值(zhi)采(cai)實際感(gan)應偵測，確(que)保溫度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)及壓(ya)力值(zhi)準確(que)度(du)(du)； 

  • 選擇濕度自由選擇

    濕(shi)度自由選擇(ze)飽(bao)和（100%R.H濕(shi)度）與非飽(bao)和（75%R.H濕(shi)度）自由設定；

  • 智能智能化高

    支持電腦連接，
    利用USB數據、
    曲線導(dao)出保存

HAST非飽和高壓加速老化試驗機

HAST設備規格參數


    產品(pin)特點

    三項符合國際規范的控制模式
    采用(yong)干濕(shi)球(qiu)溫度控(kong)(kong)制(zhi)、升溫溫度控(kong)(kong)制(zhi)及濕(shi)潤飽(bao)和控(kong)(kong)制(zhi)等三箱控(kong)(kong)制(zhi)模(mo)式(shi)，可滿足(zu)IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118規范要求；

    模式新升級：
    出色的溫濕(shi)(shi)度精密控制邏輯，防止待測品潮濕(shi)(shi)與結露(lu)的模式(shi)選擇。

    壓力數據真實呈現：
    壓(ya)力(li)值采實際感應偵測，確保溫度(du)、濕度(du)及壓(ya)力(li)值準確度(du)。

    全方位安全保護系統：
    三道高(gao)溫保護(hu)裝置、濕度用水斷水保護(hu)與(yu)電熱斷水空焚保護(hu)、機(ji)臺停機(ji)時自(zi)動排除(chu)飽和蒸氣壓(ya)力、氣動機(ji)構壓(ya)力保護(hu)等...，完善的保護(hu)裝置，保障實驗室與(yu)操(cao)作人員安全。

    完善的擴充選擇：
    可選購多個(ge)BIAS電壓(ya)端(duan)子：符合JESD22-A110之實驗規范要求，模擬待測(ce)品在高溫、高濕(shi)環(huan)境下，加載工作電壓(ya)，檢測(ce)內部(bu)封裝模塊材料接合與保護層的滲透，并(bing)且觀(guan)察是否造成遷移。

    滿足測試標(biao)準

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)

HAST高壓加速老化試驗箱合作案例