HAST高(gao)度加速壽命試驗機(ji)一般用于(yu)調查分(fen)析(xi)何時出(chu)現(xian)電子元器(qi)件、機(ji)械零件的(de)磨損和使(shi)用壽命的(de)問題,使(shi)用壽命的(de)故障分(fen)布(bu)函數呈什么樣的(de)形(xing)狀,以及分(fen)析(xi)失效率上升的(de)原(yuan)因(yin)所進行的(de)試驗。
滿足(zu)測試(shi)標準:
GB-T 2423.40-1997 、IEC 60068-2-66-1994 、JESD22-A100 、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等(deng)
加速(su)壽命(ming)(ming)試(shi)驗(yan)采(cai)用加速(su)應力(li)進行試(shi)件(jian)的(de)(de)(de)壽命(ming)(ming)試(shi)驗(yan),從而縮短了試(shi)驗(yan)時間,提高(gao)了試(shi)驗(yan)效率,降低(di)了試(shi)驗(yan)成本(ben),其研(yan)究使高(gao)可(ke)靠長(chang)壽命(ming)(ming)產(chan)品(pin)的(de)(de)(de)可(ke)靠性評定成為可(ke)能。HAST高(gao)度加速(su)壽命(ming)(ming)試(shi)驗(yan)機一(yi)般用于調查(cha)分(fen)(fen)析(xi)何時出(chu)現電子(zi)元器件(jian)、機械零件(jian)的(de)(de)(de)磨損和使用壽命(ming)(ming)的(de)(de)(de)問(wen)題,使用壽命(ming)(ming)的(de)(de)(de)故障分(fen)(fen)布(bu)函數呈什么樣的(de)(de)(de)形狀,以及分(fen)(fen)析(xi)失效率上升的(de)(de)(de)原因所進行的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)。
內膽(dan)采用圓(yuan)弧設計防止結(jie)露滴水(shui),符(fu)合國家安全容器規范;
各種超(chao)壓超(chao)溫(wen)、干燒漏(lou)電及誤操(cao)作(zuo)等多重(zhong)人機保護;
控制模(mo)式分(fen)為干濕球、不飽和、濕潤(run)飽和等3種模(mo)式,確保測試穩定性;
飽(bao)和(he)(100%R.H濕度)與非飽(bao)和(he)(75%R.H濕度)自由(you)設定(ding);
支持電腦連接,
利用USB數據、
曲線導(dao)出保存
模式新升級:
出色的(de)溫濕(shi)度精(jing)密控制邏(luo)輯,防止(zhi)待測品(pin)潮濕(shi)與結露(lu)的(de)模(mo)式選擇。
壓力數據真實呈現:
壓力值(zhi)采實際感應(ying)偵測,確保溫度、濕度及壓力值(zhi)準確度。
全方位安全保護系統:
三道高(gao)溫保護(hu)(hu)(hu)裝(zhuang)置、濕度用(yong)水(shui)斷(duan)水(shui)保護(hu)(hu)(hu)與電(dian)熱斷(duan)水(shui)空焚保護(hu)(hu)(hu)、機臺(tai)停機時自動排除飽和蒸(zheng)氣(qi)壓(ya)力(li)、氣(qi)動機構壓(ya)力(li)保護(hu)(hu)(hu)等...,完(wan)善的保護(hu)(hu)(hu)裝(zhuang)置,保障實驗室(shi)與操作人員安全。
完善的擴充選擇:
可選購多個BIAS電壓端子:符合JESD22-A110之實驗規范(fan)要(yao)求,模擬待測品(pin)在高(gao)溫(wen)、高(gao)濕(shi)環(huan)境下,加載工作(zuo)電壓,檢測內(nei)部封裝模塊(kuai)材料接(jie)合與保護(hu)層(ceng)的滲透,并且觀察是(shi)否造成遷移。
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