產品 · 詳情(qing)product details

設備用途Equipment use

HAST設(she)備用(yong)(yong)于評(ping)估非氣(qi)(qi)密性封(feng)(feng)裝(zhuang)(zhuang)IC器件(jian)、金(jin)屬材(cai)(cai)料(liao)等在濕度環境下的可靠性。通過(guo)溫度、濕度、大(da)氣(qi)(qi)壓(ya)力條件(jian)下應(ying)(ying)用(yong)(yong)于加速濕氣(qi)(qi)的滲透，可通過(guo)外(wai)部保護材(cai)(cai)料(liao)（塑封(feng)(feng)料(liao)或封(feng)(feng)口(kou)），或在外(wai)部保護材(cai)(cai)料(liao)與金(jin)屬傳導材(cai)(cai)料(liao)之(zhi)(zhi)間(jian)界面。它采用(yong)(yong)了嚴格(ge)的溫度，濕度，大(da)氣(qi)(qi)壓(ya)、電(dian)壓(ya)條件(jian)，該條件(jian)會加速水分滲透到(dao)材(cai)(cai)料(liao)內部與金(jin)屬導體之(zhi)(zhi)間(jian)的電(dian)化學反應(ying)(ying)。失效機制：電(dian)離腐蝕(shi)，封(feng)(feng)裝(zhuang)(zhuang)密封(feng)(feng)性。

準時交貨率高達99%

產品 · 特點Product features

三種控制模式
不(bu)飽和(he)控(kong)制(zhi)(干濕球(qiu)溫度控(kong)制(zhi))、不(bu)飽和(he)控(kong)制(zhi)(升溫溫度控(kong)制(zhi))、濕潤飽和(he)控(kong)制(zhi)。
多重保護功能
各種超壓超溫、干燒(shao)漏(lou)電及(ji)誤(wu)操作等多(duo)重(zhong)人機保護；
可帶電測試
可定制BIAS偏(pian)壓端子組(zu)數(shu)，提(ti)供產品(pin)通(tong)電(dian)測試；
濕度自由選擇
飽和（100%R.H濕度(du)）與非飽和（75%R.H濕度(du)）自由設(she)定；
智能化高
支持電腦連接，
利用USB數據、
曲線導出(chu)保存(cun)

HAST高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱參數規格

滿足測試(shi)標準(zhun)

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分(fen)：試驗方法試驗Cx：未飽(bao)和高壓(ya)蒸(zheng)汽(qi)恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環境試(shi)驗(yan) 第(di)2-66部分:試(shi)驗(yan)方法試(shi)驗(yan)Cx:穩態濕熱(不(bu)飽(bao)合加壓(ya)蒸汽)
    JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓(ya)測(ce)試
    JESD22-A102 加速(su)水汽(qi)抵抗性-無偏置高壓蒸煮(zhu)
   JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗(yan)）
    JESD22-A110 高加速(su)溫濕(shi)度應力試驗（HAST）
    JESD22-A118 加速(su)水汽抵抗性--無(wu)偏壓(ya)(ya)(ya)HAST(無(wu)偏置(zhi)電壓(ya)(ya)(ya)未飽和(he)高壓(ya)(ya)(ya)蒸汽)等

舉例：

    適用(yong)范圍(wei): 該試(shi)驗(yan)檢(jian)查芯(xin)片及(ji)其他(ta)產品材料(liao)長期貯存條件下，高溫和(he)(he)時間(jian)對器件的影響(xiang)。本規范適用(yong)于量產芯(xin)片驗(yan)證(zheng)測(ce)試(shi)階段的HAST測(ce)試(shi)需求，僅(jin)針對非密(mi)封封裝(zhuang)（塑(su)料(liao)封裝(zhuang)），帶偏置(zhi)（bHAST）和(he)(he)不帶偏置(zhi)（uHAST）的測(ce)試(shi)。
    溫度、濕度、氣壓、測試時間
    ? 通常選擇HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣(qi)壓，96hour測試時間。 
    ? 測(ce)試過(guo)程中，建議調(diao)試階段監控芯片殼溫、功(gong)耗數據推算芯片結(jie)(jie)溫，要保證(zheng)結(jie)(jie)溫不(bu)能過(guo) 高(gao)，并在測(ce)試過(guo)程中定(ding)期(qi)記錄(lu)。結(jie)(jie)溫推算方法參(can)考《HTOL測(ce)試技術規范》。
    ? 如果(guo)殼溫與(yu)(yu)環(huan)溫差值(zhi)或者功耗滿足下表三種關系時，特別是當殼溫與(yu)(yu)環(huan)溫差值(zhi)超(chao)過(guo) 10℃時，需考慮周期(qi)性的電壓拉偏策略。
   ? 注意測試(shi)起(qi)始時間(jian)(jian)是從環(huan)境條件(jian)(jian)達到(dao)規定條件(jian)(jian)后開始計算；結束時間(jian)(jian)為開始降(jiang)溫降(jiang)壓操作的時間(jian)(jian)點(dian)。

電壓拉偏

   uHAST測試不帶電壓(ya)拉(la)偏，不需要關注該節；
    bHAST需要帶電壓拉偏，遵(zun)循(xun)以下(xia)原則：
    （1）所有(you)電(dian)(dian)(dian)源(yuan)上(shang)電(dian)(dian)(dian)，電(dian)(dian)(dian)壓：推薦操作范(fan)圍電(dian)(dian)(dian)壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2）芯片、材料功耗小（數字部分不翻轉(zhuan)、輸入(ru)晶振短接、其他(ta)降(jiang)功耗方法）；
    （3）輸入管(guan)腳在輸入電壓允許范圍內拉高。
    （4）其他管(guan)腳，如(ru)時鐘端、復位端、輸出管(guan)腳在輸出范圍內隨機拉(la)高(gao)或者拉(la)低；

HAST設備