1、范圍(wei)
本試驗適用于所有固態樣品的評估(gu)、篩(shai)選、監測和/或鑒定。高(gao)溫貯存(cun)試驗(yan)(yan)通(tong)常用于(yu)確定貯存(cun)條件下時(shi)(shi)間(jian)(jian)和溫度對熱(re)(re)故障機(ji)制的(de)影響，以及固態電(dian)子設(she)備(bei)（包(bao)括(kuo)非易失性存(cun)儲設(she)備(bei)）的(de)時(shi)(shi)間(jian)(jian)-故障分布（數據(ju)保留故障重建機(ji)制）。在試驗(yan)(yan)過程(cheng)中(zhong)，在不(bu)施(shi)加(jia)電(dian)氣(qi)條件的(de)情況下，使(shi)用加(jia)速(su)應力溫度，根據(ju)時(shi)(shi)間(jian)(jian)、溫度和包(bao)裝(zhuang)（如有），利(li)用阿倫尼烏斯加(jia)速(su)方程(cheng)建立了熱(re)(re)失效機(ji)理(li)模型。
本試驗(yan)可能具有破壞性。
2、參考標準
JEP122 半導體器件的失效機(ji)理和模(mo)型。; JESD22-A113 可靠性測試(shi)前非密封表面貼裝裝置的(de)預(yu)處(chu)理
JESD22-B101 外部目檢
JESD47 集成(cheng)電路應力測試驅動的鑒定
JESD94 基于知識的(de)測試方法進行(xing)特定(ding)應(ying)用(yong)的(de)資格鑒(jian)定(ding)
J-STD-020 IPC/JEDEC聯合(he)標準，非密封固態表面貼裝設(she)備的濕(shi)度/回流(liu)敏感性分類(lei)。
3、試驗儀器
3.1 高低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)：本試(shi)驗所需的裝置應包括(kuo)一個(ge)可在整個(ge)試(shi)驗樣品群中保持規定溫(wen)度的受控(kong)溫(wen)度試(shi)驗箱(xiang)。3.2 電性(xing)測(ce)試設備：能夠對被測(ce)樣品進(jin)行(xing)適當(dang)測(ce)量的電氣(qi)設備，包括寫入(ru)和驗證非易失性(xing)存儲器所需(xu)的數據保持模式。
4、程序
4.1高溫(wen)貯存(cun)條件試驗(yan)中的(de)樣品應在表(biao)1中的(de)某(mou)一溫度條件下進行連續(xu)貯存。
至(zhi)少應(ying)考慮以(yi)下(xia)項(xiang)目∶
1）存在金屬的熔點，尤其是焊料(liao)。金屬降解，包括冶金界面。
2）包裝退化。例如∶任何聚合物材料的玻璃化轉變溫度和熱穩定性（在空氣中）。
3）包裝的濕度等級（根據J-STD-020 ）
4）硅器件的溫度限制。例如︰非易失性存儲器中的電荷損失。
5）應選擇試驗條件（溫度、時間），以涵蓋相應失效機制的加速應力和樣品的預期壽命（運行時間）。
JESD47和可靠性監測協議等(deng)資格文(wen)件應提供表1所述應力(li)(li)條件的應力(li)(li)持續時(shi)間。1000小時(shi)是條件B的典型持續時(shi)間。其他條件和持續時(shi)間可酌情使用。JESD47還建(jian)議一些包(bao)裝(zhuang)類型在(zai)應力(li)(li)前接受SMT回流(liu)模(mo)擬。
或(huo)者，應(ying)用基于jesd94提供的使用期限的測試(shi)方法和對可靠性模型及失效機制的理(li)解（jep122），可以為表1中的任何選定(ding)應(ying)力(li)條件提供試(shi)驗持續(xu)時間。樣品可返回到室溫或(huo)任何其他規定(ding)的臨時電(dian)性測量溫度。
4.2 測量
除(chu)非另有規定，臨(lin)時和終(zhong)電(dian)性測量應在(zai)樣品(pin)從(cong)規定試驗(yan)條件中(zhong)移(yi)出(chu)后168小時內完成。除(chu)非另有規定，臨(lin)時測量是可選的。如果提供給定技(ji)術的驗(yan)證數據，則(ze)不需要滿足時間窗口(kou)。如果超過了終(zhong)的讀取點時間窗口(kou)，則(ze)單位可能會在(zai)超出(chu)該窗口(kou)的相同時間內被重(zhong)新加載。電(dian)性測(ce)(ce)量(liang)應包括采購文件中規定的參(can)數測(ce)(ce)量(liang)和(he)功能(neng)測(ce)(ce)量(liang)。對(dui)于(yu)非易失性存儲器，必須首(shou)先寫入(ru)數據(ju)指定的數據(ju)保(bao)留模(mo)式，然后在不重新寫入(ru)的情況(kuang)下進行驗證。
4.3失效標準(zhun)
如果超出參數限制，或在采購文件中規(gui)定的額定和壞情(qing)況下無(wu)法(fa)實(shi)現功(gong)能，則設(she)備將被視為(wei)高溫貯儲(chu)故障。對于非易失性存儲(chu)器，應在存儲(chu)前(qian)后驗證規(gui)定的數據保留(liu)(liu)模式。裕(yu)度測(ce)試可用(yong)于檢(jian)測(ce)數據保留(liu)(liu)退化。
機械損(sun)(sun)傷(shang)，如塑封(feng)破(po)裂、碎裂或(huo)破(po)裂（如JESD22-B101中所定義(yi)）將(jiang)被(bei)視(shi)為故障，前提是(shi)此類損(sun)(sun)傷(shang)不是(shi)由固定裝置或(huo)搬運引起的(de)，并(bing)且(qie)對(dui)特定應用中的(de)塑封(feng)性能至關重(zhong)要。
外觀包裝缺陷、鉛表面(mian)處理退(tui)化或可焊(han)性不被視為該應(ying)力的(de)有效失效標準。
5、總(zong)結
采購文件中應規定以下細節︰電性測量、故障標準和規范(fan)
樣本大小和失敗(bai)次數（如果未(wei)觀(guan)察到，則指定為(wei)零）
表1規定(ding)的(de)條件和應力持續時間
臨時電性(xing)測量（如需要）
非易失性(xing)存儲器數據保持(chi)模式（適(shi)用于適(shi)當的設備(bei)）
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