隨著5G時代的(de)(de)到來，PCB企業為(wei)重(zhong)塑核心競(jing)爭力，提(ti)出了(le)“以質取勝(sheng)”的(de)(de)發(fa)展口號。而(er)可靠性試(shi)驗是“以質取勝(sheng)”基礎(chu)實(shi)現途徑(jing)之一，發(fa)揮著至關重(zhong)要的(de)(de)作用，直(zhi)接影(ying)響著中(zhong)國5G通信技(ji)術的(de)(de)發(fa)展。

    PCB在裝機之前要經過一系(xi)列檢(jian)查(cha)和測(ce)試，經過可(ke)靠性(xing)檢(jian)測(ce)篩(shai)(shai)選(xuan)的(de)PCB可(ke)保證(zheng)長期可(ke)靠地工作。若(ruo)PCB安(an)裝之前未(wei)經過可(ke)靠性(xing)篩(shai)(shai)選(xuan)，設備整機的(de)故障率將大幅度提高，并要付出極大的(de)代價去維修(xiu)，造(zao)成企業高額的(de)經濟損失。
    試(shi)驗箱助力(li)通信“可(ke)靠”發(fa)展

    國(guo)內外大量統計資料(liao)表明(ming)，產(chan)品失效的(de)基本(ben)原因，大部(bu)分(fen)是由(you)環(huan)境(jing)(jing)因素引起的(de)。由(you)此可(ke)見，環(huan)境(jing)(jing)對產(chan)品有著較大的(de)影響(xiang)，環(huan)境(jing)(jing)試驗對PCB品質保障也非(fei)常的(de)必要。可(ke)靠(kao)性試驗可(ke)通過(guo)人工模(mo)擬(ni)的(de)方法實現環(huan)境(jing)(jing)參(can)數對產(chan)品的(de)試驗考核(he)，從而暴露和發現產(chan)品在設計、器(qi)件(jian)選用(yong)以及工藝等方面的(de)缺陷和隱患，通過(guo)改進設計，以提高(gao)產(chan)品質量和環(huan)境(jing)(jing)適應性能力。

    PCB在(zai)(zai)使用過程(cheng)中因不同(tong)的(de)使用環(huan)境，會受(shou)到不同(tong)環(huan)境的(de)應(ying)力(li)。為(wei)了確認(ren)產(chan)品能在(zai)(zai)這些環(huan)境下(xia)正常工(gong)作，國家標(biao)(biao)準(zhun)、行業(ye)標(biao)(biao)準(zhun)都要求產(chan)品在(zai)(zai)模(mo)擬環(huan)境下(xia)進(jin)行一(yi)些測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)項目，這些測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)項目包(bao)括：高(gao)(gao)(gao)溫(wen)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、低溫(wen)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、高(gao)(gao)(gao)低溫(wen)交變測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、高(gao)(gao)(gao)溫(wen)高(gao)(gao)(gao)濕測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、機(ji)械(xie)振動測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、運輸測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、機(ji)械(xie)沖擊(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、開關電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、電(dian)(dian)源(yuan)拉(la)偏測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、冷啟動測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、鹽霧測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、雨淋測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、塵砂測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、雷擊(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)等(deng)。其中需(xu)用試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗箱(xiang)進(jin)行的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)項目有：
    （1）高(gao)溫測試（高溫老化試驗箱(xiang) ）
    （2）低溫測試（低(di)溫試驗箱(xiang) ）
    （3）高低(di)溫交變測試（高低溫交變濕熱試驗(yan)箱 ）
    （4）高溫高濕測試（溫濕度試驗箱(xiang) ）
    （5）鹽霧(wu)測試（鹽(yan)霧試驗箱 ）
    （6）雨淋(lin)測試(shi)（淋雨試驗箱 ）
    （7）塵沙(sha)測試（砂塵試驗(yan)箱 ）