摘要：事實上需要鹽霧腐蝕試驗的電子元件很廣泛的,比如外露的金屬外殼：中頻變壓器、屏蔽罩、PCB線路板、鋁殼式電容器外殼、金屬式晶振外殼、某些帶觸點的開關、收音機的可變電容器、電位器等等， 鹽霧試驗(yan)可以用來評定(ding)金(jin)屬(shu)(shu)或非金(jin)屬(shu)(shu)防護層的質量和保護均勻性。
    首(shou)先哪些電子元(yuan)件要(yao)進(jin)行(xing)鹽霧試驗呢(ni)？ 

    事實上(shang)需要鹽霧(wu)腐蝕(shi)試驗的電(dian)(dian)子元件很(hen)廣泛的,比(bi)如外(wai)露(lu)的金(jin)屬外(wai)殼：中頻變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)、屏蔽罩、PCB線路板、鋁殼式電(dian)(dian)容器(qi)(qi)外(wai)殼、金(jin)屬式晶振外(wai)殼、某(mou)些帶觸點的開關、收(shou)音機的可(ke)變(bian)電(dian)(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)(dian)位器(qi)(qi)等等...

    首(shou)先(xian)看一下實驗條件：
    1. 鹽溶(rong)液為5±1%的(de)氯(lv)化(hua)(hua)鈉(na)溶(rong)液，用化(hua)(hua)學純氯(lv)化(hua)(hua)鈉(na)溶(rong)于蒸(zheng)餾水或去(qu)離子水配(pei)制而成。水的(de)電阻(zu)率(lv)不小于500Ω·m。
    2. 每次配制好(hao)的鹽溶液和噴霧后(hou)的收(shou)集液，在溫度(du)35±2℃時，其(qi)ph值(zhi)(zhi)應(ying)為6.5~7.2.ph值(zhi)(zhi)用(yong)酸度(du)計或(huo)精密試紙測(ce)量。應(ying)使(shi)用(yong)化學純鹽酸或(huo)氯化鈉的稀(xi)溶液調(diao)節鹽溶液的ph值(zhi)(zhi)。
    3.在工作空間內(nei)任(ren)一點上，水平(ping)收(shou)集(ji)面積為(wei)80立方厘米的(de)收(shou)集(ji)器，每小時收(shou)集(ji)到1.0~2.0ml的(de)溶液。至少要使(shi)用兩個收(shou)集(ji)器。
    4.試驗時(shi)間由有關標(biao)準(zhun)從下列等級中選取：
    (鹽霧(wu)噴(pen)霧(wu)）實驗等級A——96h
    (鹽霧(wu)噴(pen)霧(wu)）實驗(yan)等級B——48h
    (鹽霧噴霧）實驗(yan)等級(ji)C——24h
    試(shi)驗程序(xu)：
    1、實驗前，應對試驗樣(yang)品進行外觀檢(jian)查，并(bing)按規定(ding)進行電性能，機(ji)械(xie)性能檢(jian)測。
    2、試驗樣品在(zai)即將實驗前應徹底清(qing)除(chu)表(biao)面(mian)上的灰塵(chen)與油污(wu)等，直至(zhi)表(biao)面(mian)不(bu)掛水(shui)珠。所用溶劑不(bu)產生腐(fu)蝕作用，也不(bu)形成保(bao)護膜(mo)。有機涂層(ceng)不(bu)應使(shi)用有機溶劑清(qing)洗。若無其它規(gui)定，與樣品架接觸的部分及(ji)不(bu)需要涂復的切(qie)面(mian)和(he)表(biao)面(mian)，皆應涂上臘層(ceng)或其它類似物質加(jia)以保(bao)護。
    3、試驗樣品(pin)的(de)放(fang)置(zhi)應避免互相接觸，也不得互相遮(zhe)蔽(bi)鹽霧(wu)的(de)作(zuo)用。板狀試驗樣品(pin)的(de)主要(yao)表面應與垂直方向成15°~30°角。
    4、如果實驗前鹽霧試驗箱已停止使用5天以上，則應空箱測試24小時，以確定溫度與沉降率符合試驗要求后才開始試驗。當工作空間溫度穩定在35±2℃時即可噴霧。試驗應連續進行，試驗時間由有關標準選取。